DFT测试simulation测试区别

最新推荐文章于 2025-07-31 16:42:30 发布
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本文探讨了可测试性设计(DFT)的概念，包括其在芯片设计中的作用，即通过在前端设计中加入测试逻辑来支持后期的自动化测试。DFT不仅涉及测试向量的产生，还包括测试结果的分析，旨在检测芯片制造过程中的问题。文章对比了DFT与simulation的区别，前者关注制造缺陷，后者侧重于设计阶段的功能验证。

一、DFT概念：可测试性设计

  • 狭义理解：是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。
  • 广义理解：不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。

DFT是偏向于测试芯片制造过程中引入的问题或者器件本身的问题

simulation是芯片设计过程中的功能性能问题

在前端加入DFT电路后要进行formal比较，DFT的覆盖率用APTG验证

参考DFT--Design For Test

半导体厂商如何做芯片的出厂测试

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