DFT SCAN

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于 2024-05-19 20:43:48 首次发布
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测试类型

Functional测试

验证电路的功能

Simulation、verification of design logic

模拟、数字、数模混合测试

可以是板级、子系统、系统级进行测试

结构化测试

主要目标是对生产制造过程中的故障进行测试

包括

DC Scan

AC Scan

Logic BIST

BSD

Fault Models

Stuck at fault

如果测试sa-0/1故障，需要将其置于相反的值（1/0）

观察（Observe）这个点的value值，并且与期望的值进行比较来判断是否有故障

对于下面的例子，只需要3 vectors就可以覆盖6个faults。

一些fault是等价的。

Transition fault

Transition faults模型是用于测试是否有大的delay这种故障。

常出现的有：slow to rise和slow to fall故障类型

测试这种故障，需要产生一个翻转，然后在期望的是将窗口内捕获是否能够有期望值。

Path delay

IDDQ

Open

Timing aware

Bridge fault

       Two models exist:

       Layout aware test based on physical attibutes

       Statistical model testing each gate terminal multiple times (multiple detection model)

Testability

Controllability

       能够通过primary inputs控制（control）电路的内部状态的能力。

Observability

       能够通过primary outputs观察（observe）内部电路状态的能力。

挑战：

       集成电路规模的复杂度的提高

       DFT能够使用的IO资源有限

通过scan chain提高testability

       普通的寄存器替换成scan 寄存器

       连接scan寄存器组成scan chain

       增加一些scan IO

高测试性电路

       测试时电路可以置于已知状态

       PIs是可控的

       Pos是可观测与可测量

Scan cell类型

Mux scan cell类型：

       应用在大部分的设计中

       通过MUX选择输入的数据

              在normal mode/capture

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