11、应对制造缺陷，构建可靠的千万亿级晶体管逻辑系统

应对制造缺陷，构建可靠的千万亿级晶体管逻辑系统

1. 细胞矩阵与可靠性挑战

在逻辑设计领域，细胞的模式相对独立，D模式和C模式细胞的相互作用，使得矩阵内的细胞能够读取、修改和写入其他细胞的查找表（LUTs）。这些LUTs可作为普通数据处理、共享，还能用于配置细胞，实现如测试细胞行为、创建动态电路以及并行配置大量细胞等强大功能。

然而，新的逻辑设计生产方法面临着可靠性挑战。传统生产方法在可靠性方面有一定的积累，但新方法可能与过去差异巨大，难以利用这些成果。在考虑替代现有硬件制造和开关小型化工艺时，可靠性是一个关键问题，需要关注以下方面：
- 生产方法的错误率 ：即生产过程中出现错误的概率。
- 产品缺陷数量 ：生产出的产品中存在缺陷的数量。
- 具体错误和缺陷类型 ：不同类型的错误和缺陷对产品的影响不同。
- 产品性能和寿命 ：产品的性能表现以及能够正常使用的时长。
- 使用中的错误条件和状态 ：产品在使用过程中可能遇到的错误情况，以及这些错误状态是否可恢复。

新制造工艺的密度、体积、成本和运行参数（如速度、温度、功率）固然重要，但可靠性同样不可忽视。与当前生产场效应晶体管的方法相比，全新的生产方法很难达到相近的可靠性，因为它们难以融入过去五十年来晶体管生产的改进成果。而且，随着密度提高，设计中使用的开关数量增加，即使缺陷或操作错误率固定，错误数量也会随体积增加而上升。

2. 两层方法应对可靠性问题

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