11、突破制造缺陷：实现千万亿级晶体管逻辑系统

突破制造缺陷：实现千万亿级晶体管逻辑系统

在当今科技飞速发展的时代，纳米、量子和分子计算领域正不断取得新的突破。然而，要实现千万亿级晶体管逻辑系统，我们面临着制造缺陷和可靠性等诸多挑战。本文将深入探讨如何克服这些问题，为未来的计算技术发展提供新的思路。

1. 细胞矩阵架构与逻辑设计

细胞的模式在很大程度上独立于其他细胞，并非系统级属性，而是每个细胞的特性。D 模式和 C 模式细胞的相互作用，使得矩阵内的细胞能够读取、修改和写入其他细胞的查找表（LUTs）。这些 LUTs 可作为普通数据处理、共享，随后用于配置细胞，即当作代码使用。这一特性可实现多种强大功能，如测试细胞行为、在矩阵自身指导下创建动态电路以及并行配置大量细胞。

2. 未来逻辑设计面临的可靠性问题

新的逻辑设计生产方法未必能受益于过去在可靠性方面的改进，因为它们可能与过去的生产方法有很大差异。在考虑替代现有硬件制造工艺和逐步缩小开关尺寸时，可靠性是一个关键问题。我们需要关注生产方法的错误率、产生的产品缺陷数量、具体的错误和缺陷类型、产品的性能和使用寿命，以及使用过程中遇到的错误条件和状态是否可恢复。

新制造工艺的预期密度、体积、成本和运行参数（如速度、温度和功率）固然重要，但可靠性同样不可忽视。与现有场效应晶体管生产方法相比，任何截然不同的生产方法都不太可能达到相近的可靠性，因为它们难以融入过去五十年来晶体管生产的改进成果。然而，这些新方法可能在体积、密度或运行参数方面具有理想的特性，因此我们需要找到克服其可靠性问题的方法，逐步改进直至其具有合理的可靠性。

随着系统规模的扩大，即使缺陷或运行错误率保持不变，缺陷或运行错误的数量也会随着体积的增加而上升。对于