【2023校招刷题】常见面试问题总结(二、数字电路与Verilog篇)(随后续面试不断更新....)

这篇博客汇总了2023年校招中关于数字电路和Verilog的常见面试问题,涵盖竞争冒险、线与逻辑、阻塞性赋值与非阻塞性赋值、锁存器与触发器的区别、时序分析、FIFO设计等多个核心知识点,旨在帮助应聘者准备相关面试。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

1.什么是竞争与冒险现象?如何判断?怎样消除?

组合电路中,某一输入信号经过不同的途径传播后,由于路径延迟不同,使得到达电路中某一个逻辑门会合点的时间有先有后,这种现象叫做竞争;由于由竞争而产生的尖脉冲或者说毛刺就叫做冒险

判断方法:

  • 1)、代数法:如果布尔表达式中有相反的信号则可能产生竞争和冒险的现象。如果表达式为:F=A+A’,就会产生"0"冒险;F=A*A’,就会产生"1"冒险。
  • 2)、卡诺图:有两个相切的卡诺圈并且相切处没有被其他卡诺圈包围,就有可能出现竞争冒险;
  • 3)、 实验法示波器观察。

消除方法:

  • 1)、接入滤波电容;、消除毛刺影响ÿ
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