氧在半导体中的原子构型与电学性质
1. 氧的原子构型
在半导体材料中,硅(Si)、锗(Ge)和砷化镓(GaAs)中关于间隙氧、氧 - 空位中心以及氧与杂质、掺杂剂和晶格原子的一些组合已有相对详细的信息。不过,仍有大量含一个或几个氧原子的中心,缺乏详细的微观信息。
1.1 OH 中心在 GaAs 中的情况
在半绝缘(SI)GaAs 中,OH 局部振动模式(LVM)在 3300 (cm^{-1}) 附近有吸收。图 29 展示了其吸收的放大部分,显示出非常弱的 (^{18}OH) 卫星峰。这种吸收呈现出 (100)、(110) 或 (111) 取向偶极子的常见模式。观察到比预期更多的成分,并不意味着是低对称偶极子,因为简单取向的成分是完全极化的。这可解释为 OH 自由基与环境弱耦合,在应力作用下可重新取向,方向与零应力时不同。这个 OH 中心具有电活性,能捕获空穴,产生新的 LVM 在 3296 (cm^{-1})(图 30)。频率的小变化表明空穴不是被 O - H 键捕获,而是被其环境捕获。在其他高频 LVM 中,2947 (cm^{-1}) 的 LVM 可确定与三角位置的 NH 有关,而其他 LVM 可能与其他类型的 OH 中心有关。
1.2 不同半导体中氧的情况
- GaP :一个 1020 (cm^{-1}) 的 LVM 被暂时归因于 (v_3(O_i))。氧作为深中心的电学和光学性质也有过详细讨论,与该深中心相关的氧原子可能是替位式的。
- II - VI 化合物 :由于基质的离子性较大,氧可能位于阴离子位置,在 ZnTe
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