本文详细介绍了数字IC验证中UVM的Callback机制，包括如何改变UVM组件的功能行为、错误注入和覆盖率收集。通过四个步骤，即嵌入Callback函数、创建空壳类、编写Callback方法和在测试用例中创建实例，实现错误注入和覆盖率统计。Callback机制旨在支持不同场景和用例，允许在组件行为前后插入自定义功能。
导读：作者有幸在中国电子信息领域的排头兵院校“电子科技大学”攻读研究生期间，接触到前沿的数字IC验证知识，旁听到诸如华为海思、清华紫光、联发科技等业界顶尖集成电路相关企业面授课程，对数字IC验证有了一些知识积累和学习心得。为帮助想入门前端IC验证的朋友，思忱一二后，特开此专栏，以期花最短的时间，走最少的弯路，学最多的IC验证技术知识。
文章目录
一、本节规划
1.1、学习内容
- 嵌入 UVM CallBack 函数
- 构建 Facade UVM CallBack 类（空壳）
- CallBack 应用
- 使用 UVM CallBack 机制注入错误（error injection）
- 使用 UVM CallBack 机制实现功能覆盖率
1.2、学习目标
- 掌握四步编写 UVM Callback 的方法
- 通过callback机制实现错误注入
- 通过callback机制实现覆盖率统计
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