《炬丰科技-半导体工艺》--技术资料合集29

本文涵盖了半导体制造中多个关键步骤,包括单晶片清洗、旋转清洗、湿法刻蚀、等离子体微纳米制造、蚀刻清洗、晶圆缺陷检测、背面清洁、超音速颗粒去除、光刻胶剥离及附着力研究、高效清洁工艺、接触孔和沟槽的双重构图策略、CMP材料去除率、防止生物膜形成、超声清洗、晶圆干燥性能评估、栅氧化物制备挑战、氧气控制、光刻胶湿剥离以及硅加工清洁。这些内容揭示了半导体行业中精密清洗和加工的重要性。

一:单晶片清洗中的时间影响

二:旋转清洗工艺

三:单片湿法刻蚀

四:等离子体的微纳米制造

五:电化学行为后的蚀刻清洗

六:2021年电子半导体白皮书

七:多通道晶圆缺陷检测方法

八:晶圆背面高效清洁工艺

九:晶片中去除超音速颗粒

十:光刻胶剥离方法

十一:光刻胶的湿剥离工艺

十二:硅加工的高效清洁

十三:光刻中接触孔和沟槽的双重构图策略

十四:硅片CMP中材料去除率的化学影响

十五:防止种植体表面生物膜形成的表面涂层策略

十六:高频超声清洗半导体晶片的方法

十七:单片晶圆清洗工具干燥性能评估

十八:氮化栅氧化物的表面制备挑战

十九:单晶片湿法清洁工艺的氧气控制

二十:单晶圆工具湿蚀刻时的光刻胶附着力

基于可靠性评估序贯蒙特卡洛模拟法的配电网可靠性评估研究(Matlab代码实现)内容概要:本文围绕基于序贯蒙特卡洛模拟法的配电网可靠性评估展开研究,重点介绍了利用Matlab代码实现该方法的技术路径。文中详细阐述了序贯蒙特卡洛模拟的基本原理及其在配电网可靠性分析中的应用,包括系统状态抽样、时序模拟、故障判断与修复过程等核心环节。通过构建典型配电网模型,结合元件故障率、修复时间等参数进行大量仿真,获取系统可靠性指标如停电频率、停电持续时间等,进而评估不同运行条件或规划方案下的配电网可靠性水平。研究还可能涉及对含分布式电源、储能等新型元件的复杂配电网的适应性分析,展示了该方法在现代电力系统评估中的实用性与扩展性。; 适合人群:具备电力系统基础知识和Matlab编程能力的高校研究生、科研人员及从事电网规划与运行的技术工程师。; 使用场景及目标:①用于教学与科研中理解蒙特卡洛模拟在电力系统可靠性评估中的具体实现;②为实际配电网的可靠性优化设计、设备配置与运维策略制定提供仿真工具支持;③支撑学术论文复现与算法改进研究; 阅读建议:建议读者结合提供的Matlab代码逐段理解算法流程,重点关注状态转移逻辑与时间序列模拟的实现细节,并尝试在IEEE标准测试系统上进行验证与扩展实验,以深化对方法机理的理解。
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