9、纳米、量子与分子计算中的缺陷容忍技术

纳米、量子与分子计算中的缺陷容忍技术

1. 自适应测试方法与挑战

自适应测试方法的一个简单示例是将每个组件作为测试电路的一部分进行测试，该测试电路的其他组件已知无缺陷。但这种方法效率极低，寻找高效的最终测试方法是当前的工作重点。

2. 布局与布线工具的要求

布局与布线工具需满足以下要求，才能在缺陷容忍方法中使用：
- 多次运行 ：与当前硬件设计方法不同，每个可重构织物都有独特的缺陷图，因此布局与布线工具需为每个织物运行一次。为使这一过程可行，需在实现所需功能的同时，尽量减少每个织物的工作量。
- 信号时序保证 ：调整设计以避免缺陷可能会对各种信号的时序产生不可预测的影响。必须确保尽管进行了这些调整，已实现的电路仍能满足所有时序和功能保证。
- 执行时间 ：由于设想将VLRF用于通用计算，而非仅作为ASIC的替代品，布局与布线工具的执行时间应与软件编译和安装时间相当，以秒和分钟为单位，而非像当前硬件设计或可重构逻辑工具流程那样以小时和天为单位。
- 缺陷图完整性 ：对于缺陷率较高的情况，可能无法获取完整的缺陷图。因为存储完整织物的详细缺陷图所需的资源可能与织物本身可用的资源相当。

3. 两阶段布局与布线过程

为解决上述问题，提出将布局与布线过程分为两个阶段：
- 缺陷无关布局与布线（DUPER） ：由应用开发者为每个设计执行一次。此阶段将产生一个“软”配置，包含足够的布局和布线信息，以便在后续阶段快