38、VLSI测试领域研究与技术综述

VLSI测试领域研究与技术综述

1. 研究期刊推荐

在VLSI（超大规模集成电路）测试领域，《VLSI Journal》以及《Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA)》是了解该领域持续发展动态的重要期刊资源。

2. 多方面研究成果总结

• 集成电路测试基础研究
  • 自动测试模式生成算法 ：Kirkland和Mercer在1988年提出了自动测试模式生成算法，Goel提出了RAPS测试模式生成方法，Goel和Rosales开发了PODEM - X自动测试模式生成系统，用于VLSI逻辑结构。这些算法和系统为集成电路的自动化测试提供了基础，提高了测试效率。
  • 测试生成算法加速 ：Fujiwara和Shimona在1983年研究了测试生成算法的加速问题，为提高测试生成的速度提供了理论支持。
  • 行为级故障模拟 ：Ghosh在1988年进行了行为级故障模拟的研究，有助于在设计阶段更准确地预测电路可能出现的故障。
• 不同电路类型的测试研究
  • CMOS组合电路 ：Bate和Miller在1988年对CMOS组合电路中的固定开路故障进行了详尽测试研究，为CMOS电路的可靠性提供了保障。