66、电子电路测试与设计相关研究综述

电子电路测试与设计相关研究综述

1. 引言

电子电路的测试与设计是电子工程领域的重要研究方向，涵盖了从故障模拟、测试模式生成到电路可靠性设计等多个方面。本文将对一系列相关研究进行综述，介绍不同研究的核心内容和主要成果。

2. 故障模拟与测试模式生成

2.1 并行模式故障模拟器

N. Gouders和R. Kaibel提出了“PARIS: A Parallel Pattern Fault Simulator for Synchronous Sequential Circuits”，用于同步时序电路的并行模式故障模拟。该模拟器在1991年11月的国际计算机辅助设计会议上被提出，其成果发表在会议论文集的542 - 545页。

2.2 测试模式生成算法

众多研究致力于开发高效的测试模式生成算法。例如，T. Kirkland和M. R. Mercer提出了一种用于自动测试模式生成（ATPG）的拓扑搜索算法，该算法在1987年6 - 7月的第24届设计自动化会议上被介绍，相关内容发表在会议论文集的502 - 508页。

2.3 测试模式生成的其他方法

还有其他多种方法用于测试模式生成，如：
- N. Itazaki和K. Kinoshita通过改进的Z - 算法为具有三态模块的电路生成测试模式，相关研究在1986年9月的国际测试会议上进行了讨论，论文发表在会议论文集的105 - 108页。
- T. Larrabee提出使用布尔差分和布尔可满足性来高效生成测试模式，分别发表在1989年8月的国际测试会议（795 - 801页）和1992年1月的IEEE计算机辅助设计汇刊（4 - 1