64、电子电路测试与设计相关资源及研究综述

电子电路测试与设计相关资源及研究综述

1. 会议与研讨会

在电子电路测试与设计领域，有众多重要的会议和研讨会，为专业人士提供了交流和分享的平台。以下是一些常见的会议和研讨会：
- IEEE相关会议 ：
- Asian Test Symposium（亚洲测试研讨会）
- Autotestcon Conf.（自动测试会议）
- Custom Integrated Circuits Conf.（定制集成电路会议）
- Design and Test in Europe (DATE) Conf.（欧洲设计与测试会议）
- Design Automation Conf., ACM/IEEE（设计自动化会议）
- European Design Automation Conf.（欧洲设计自动化会议）
- European Design and Test Conf.（欧洲设计与测试会议）
- Int’l. Conf. on Computer Design（国际计算机设计会议）
- Int’l. Conf. on Computer-Aided Design（国际计算机辅助设计会议）
- VLSI Test Symposium（超大规模集成电路测试研讨会）
- Int’l. Conf. on VLSI Design（国际超大规模集成电路设计会议）
- Int’l. Fault Tolerant Computing Symposium（国际容错计算研讨会）
- Int’l. Mixed-Signal Test Workshop（国际混合信号测试研讨会）