65、电子电路测试与设计相关研究综述

电子电路测试与设计相关研究综述

在电子电路领域，测试与设计是确保电路性能和可靠性的关键环节。以下将对一系列相关研究进行详细介绍，涵盖了测试方法、故障诊断、电路设计等多个方面。

1. 测试方法与技术

• 自动测试生成 ：
  • S. G. Chappell提出了异步数字电路的自动测试生成方法，可有效提高测试效率。
  • W.-T. Cheng和T. J. Chakraborty开发的Gentest系统，是用于顺序电路的自动测试生成系统。
• 测试模式生成 ：
  • C. L. Chen利用循环码实现了详尽测试模式生成，为电路测试提供了全面的覆盖。
  • P. Goel提出的隐式枚举算法，用于组合逻辑电路的测试生成。

2. 故障诊断与分析

• 故障建模 ：
  • V. H. Champac等人对CMOS电路中的栅氧化层短路、浮栅和桥接故障进行了建模。
  • R. Dekker对静态随机存取存储器进行了故障建模和自测试研究。
• 故障诊断算法 ：
  • H. S. M. Chen和R. Sacks提出了用于多频率故障诊断方程求解的搜索算法。
  • M. A. Gharaybeh等人