66、集成电路测试与设计相关研究综述

集成电路测试与设计相关研究综述

1. 研究概述

在集成电路领域，测试与设计是确保电路性能和可靠性的关键环节。众多学者在这方面进行了广泛而深入的研究，涵盖了从故障模拟、测试模式生成到电路设计优化等多个方面。

2. 故障模拟与测试模式生成

• PARIS模拟器 ：N. Gouders和R. Kaibel提出了用于同步时序电路的并行模式故障模拟器PARIS，该研究发表于1991年11月的国际计算机辅助设计会议，为同步时序电路的故障模拟提供了新的方法。
• REDO实验 ：M. R. Grimaila等人在1999年4月的第17届VLSI测试研讨会上介绍了REDO（随机激励和确定性观察）的首次商业实验，为电路测试提供了新的思路。
• 测试模式生成算法 ：许多研究致力于开发高效的测试模式生成算法。例如，N. Itazaki和K. Kinoshita通过改进Z - 算法为具有三态模块的电路生成测试模式；T. Larrabee则利用布尔差分和布尔可满足性来高效生成测试模式。

以下是部分故障模拟与测试模式生成相关研究的总结表格：
| 研究人员 | 研究内容 | 发表会议/期刊 | 发表时间 |
| — | — | — | — |
| N. Gouders和R. Kaibel | PARIS平行模式故障模拟器 | 国际计算机辅助设计会议 | 1991年11月 |
| M. R. Grimaila等人 | REDO随机激发和确定性观察实验 | 第17届VLSI测