64、电子电路测试与设计相关资源及研究成果综述

电子电路测试与设计相关资源及研究成果综述

1. 会议与研讨会

在电子电路测试与设计领域，有众多重要的会议和研讨会，为专业人士提供了交流和分享的平台。以下是一些相关的会议和研讨会：
- IEEE相关会议 ：
- Asian Test Symposium
- Autotestcon Conf.
- Custom Integrated Circuits Conf.
- Design and Test in Europe (DATE) Conf.
- Design Automation Conf.（ACM/IEEE联合举办）
- European Design Automation Conf.
- European Design and Test Conf.
- Int’l. Conf. on Computer Design
- Int’l. Conf. on Computer-Aided Design
- VLSI Test Symposium
- Int’l. Conf. on VLSI Design（VLSI Society of India与IEEE联合举办）
- Int’l. Fault Tolerant Computing Symposium
- Int’l. Mixed-Signal Test Workshop
- Int’l. Symposium on Circuits and Systems
- Int’l. Test Conf.
- North Atlantic Test Workshop
- Int