36、天线电气补偿与结构设计及数据优化研究

天线电气补偿与结构设计及数据优化研究

在现代电子系统中，天线和相关连接结构的性能至关重要。本文将围绕天线的电气补偿实验、RF 扩展连接单元的结构设计与分析，以及协调器支撑结构自动调整的数据优化展开探讨。

1. 天线电气补偿实验

为了研究天线在不同变形情况下的电气性能补偿，进行了两种变形实验：勺子弯曲变形和悬臂弯曲变形。

1.1 勺子弯曲变形实验

• 变形产生 ：通过调整 9 个致动器使天线表面产生勺子弯曲变形。根据摄影测量得到的变形信息，测量得到阵列表面的变形结果，天线表面最大变形为 20.5 mm，是天线工作波长的 0.81 倍。
• 辐射方向图测量 ：测量了扫描角度为 0°和 10°时的辐射方向图。在这种变形条件下，天线方向性降低约 2.2 dB，主波束方向和零点位置与未变形波束方向约有 0.4°的差异，半功率波束宽度增加约 0.4°。
• 补偿效果 ：补偿后，天线的性能指标有所恢复，但由于补偿方法的限制，旁瓣和零点深度无法恢复到理想状态。具体的电气性能指标对比如下表所示：
  |状态|扫描角度（°）|方向性（dB）|波束方向（°）|旁瓣电平（dB）|波束宽度（°）|零点位置（°）|零点深度（dB）|
  | ---- | ---- | ---- | ---- | ---- | ---- | ---- | ---- |
  |未变形|0|40.09|0.48|-29.32|0.94|0.48|-42.44|
  |未变形|10|37.8|10.45|-29.01|0.