高速SET D触发器设计与手写马拉地语复合字符特征提取分析
高速SET D触发器设计
在触发器设计领域,现有的10T D触发器设计是负边沿触发的触发器,其输出会在时钟信号从‘1’变为‘0’时根据输入发生变化。为了进一步优化性能,提出了一种新的9T D触发器设计。
在新的9T SET D触发器设计中,反馈回路里用传输晶体管取代了传输门。该设计由三个传输晶体管和三个反相器构成,采用两个锁存器串联的方式,即主锁存器和从锁存器。主锁存器的形成方式与现有设计类似,使用一个传输晶体管和一个反相门;从锁存器则由两个反相器和两个传输晶体管组成。
当clk信号变为高电平时,传输晶体管NMOS_1导通,din信号进入主锁存器,然后经过反相器。当与clk信号相反的clkb信号变为高电平时,传输晶体管NMOS_3导通,中间信号经过两个反相器产生输出‘q’和‘qb’。PMOS_4用于形成反馈回路,当clk信号为‘0’时,输出‘qb’反馈到从锁存器的输入端,输出保持不变。
此设计同样是负边沿触发的触发器,从其输入和输出波形可以看出,当时钟信号从高电平变为低电平时,输出跟随输入变化。并且,该设计的布局中多晶硅触点数量为三个,且不存在多晶硅和金属重叠的情况。
为了验证新设计的性能,使用Tanner EDA工具v14.1对现有10T D触发器设计和新的9T D触发器设计在90、65和32 nm技术下进行了仿真。仿真时,温度、电压和频率的标准值分别设定为25 °C、1 V和1 GHz,每次只改变其中一个参数,保持另外两个参数不变。所有nMOS晶体管的宽长比设为1(W/L = 1),pMOS晶体管的宽长比设为2.5(W/L = 2.5),这是因为nMOS的多数载流子是电子,pMOS的多数
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