DFT之LOC和LOS

前言

DFT技术中有一种成为at-speed的技术，可以用来测试电路正常工作的时序是否有问题，进而确定电路能否正常工作。这种技术测试的故障叫做transition fault，同样这种技术也叫transition fault test。
想要实现这种技术，一对测试pattern(V1, V2), 需要应用到测试电路当中（Circuit Under Test, CUT)。 V1用来初始化电路，或者叫给整个电路的所有触发器赋上一个初值，V2作为触发一个0到1，或者1到0的翻转，然后在一个时钟后进行捕获结果。注意，这里的时钟周期需要和正常功能模式下的时钟周期保持一致，以获得最接近实际的测试效果。
整个过程需要三个周期：

• 初始化，Initialization Cycle（IC），即对整个电路初始化需要的一个时钟周期
• 发射，Launch Cycle（LC），在目标触发器启动一个指定的翻转
• 捕获，Capture Cycle（CC），捕获经过组合逻辑的计算结果

Launch Off Shift (LOS)

又叫Skewed-Load，如下面的时序图所示，LOS测试的时候，scan enable的低电平会维持一个时钟脉冲。这样，launch发生在最后一次shift的那个周期，通过SD-Q传入组合逻辑，经过组合逻辑之后在下一个时钟上升沿被采样，即捕获，然后再将其依次shift出去。

Launch Off Capture (LOC)

又叫Broad-Side， 如下面的时序图所示，LOC测试的时候，scan enable的低电平会维持两个时钟上升沿。这样第二个时钟沿的采样过程就更加接近电路实际工作的情况，数据从前一级的D-Q进入组合逻辑，然后再被捕获。