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RSS订阅原创 基于MemTest86 V10.X的报错内存条的坏损颗粒定位工具
基于MemTest86 V10.X的报错内存条的坏损颗粒定位工具！DDR4 DDR5都可以！
2024-07-25 09:29:58
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原创 EVT, DVT, DMT, MVT, PVT, MP解释(转贴)
设计者实现样品时做初期的测试验证，包括功能和安规测试，一般由RD(Research&Development)对样品进行全面验证，因是样品，问题可能较多，测试可能会做N次。设计验证测试解决样品在EVT阶段的问题后进行，对所有信号的电平和时序进行测试，完成安规测试，由RD和DQA(Design Qualiy Assurance)验证。PMC: Production & Material Control 生(产)物(料)管(理)
2023-08-03 18:53:42
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原创 Intel 确认 Alder Lake BIOS 的源代码泄露 --------ICE_TEA_BIOS
Alder Lake 是 Intel 2021 年 11 月发布的第 12 代核心处理器。10 月 7 日，有名为 freak 的推特用户在推特上发布了一个链接称是 Intel Alder Lake 的 UEFI 固件。该链接为名为 LCFCASD 的用户发布的 GitHub 库—— ICE_TEA_BIOS。Freak 称 ICE_TEA_BIOS 库中包含 C970 项目的 BIOS 源代码。
2023-04-26 14:06:26
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原创 StressAppTest的简介
StressAppTest的全称是Stressful Application Test (stressapptest) 的简称这里我们可以将其简化为SAT。SAT试图让来自处理器和I/O到内存的数据尽量随机化，以创造出模拟现实的环境来测试现在的硬件设备是否稳定。SAT的大概作用如下：据谷歌的介绍，这个软件会生产线程来拷贝和直接对磁盘进行读取和写入。目标则是尽可能地载入系统内存，以便更加有效地进行测试。该软件更多的时候测试的是内存控制器和总线接口，而不是存储单元的功能。
2023-04-23 10:20:53
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原创 DRAM DDR4&DDR5 UDIMM&RDIMM的内存测试固件开发的经验总结
5.2、报错时，写入报错物理地址的pattern和读出来的实际的pattern，比如写入的pattern是0x55555555，读出来的pattern却是0x15555555；5.2、报错时，写入报错物理地址的pattern和读出的数值，比如写入的pattern是0x55555555，读出来的pattern却是0x15555555；5.3、这个报错的物理地址对应的内存条的卡槽位置、RANK、GROUP、BANK、ROW和COL；
2023-04-21 16:39:00
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原创 How physical addresses map to rows and banks in DRAM
reference:https://stackoverflow.com/questions/23428690/physical-memory-address-to-dram-mapping-information-for-x86Here is an example of how 32-bit physical addresses might be mapped*:Bits ...
2023-02-08 23:16:19
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转载 Memory RAS - Reliability, Availability and Serviceability
可靠性。指的是系统必须尽可能的可靠，不会意外的崩溃，重启甚至导致系统物理损坏，这意味着一个具有可靠性的系统必须能够对于某些小的错误能够做到自修复，对于无法自修复的错误也尽可能进行隔离，保障系统其余部分正常运转。可用性。指的是系统必须能够确保尽可能长时间工作而不下线，即使系统出现一些小的问题也不会影响整个系统的正常运行，在某些情况下甚至可以进行 Hot Plug 的操作，替换有问题的组件，从而严格的确保系统的 downtime 时间在一定范围内。
2022-12-09 10:01:38
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原创 DRAM Address Mapping/Decoding(内存地址解码)
定义：所谓内存地址解码，也可以称作Dram地址的解码，DRAM Address Mapping(多通道卡槽定位和颗粒定位)解释：是指从64bit的内存物理地址(比如，0x12345678234)到Dram地址(socket/ctrl/chl/dimm/rank/chip/group/bank/row/col)的映射关系的过程。内存地址解码的过程是一个十分复杂的过程，对于intel平台来说，这部分MRC代码是BIOS在内存初始化阶段就执行完成的，我们作为UEFI应用开发者无法知晓这其中的具体实现过程，除非我们
2022-12-06 16:59:17
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原创 UEFI Memory Type Description
EfiConventionalMemory: Available memory spaceEfiLoaderCode: UEFI Application codeEfiLoaderData: UEFI Application dataEfiBootServicesCode: UEFI/PEI/DXE driverEfiBootServicesData: UEFI/PEI/DXE driver allocated memoryEfiPersistentMemoryEfiRuntime.
2021-12-14 09:39:52
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转载 ECC DIMM
内存RAM 分为三种 分别是non-ECC, unbuffered-ECC 和 registered ECC。 前两种为UDIMM ，后一种为RDIMM。 non-ECC是常见的普通消费类内存，也无缓存， unbuffered-ECC则是有ECC但是没有缓存寄存器的内存， registered ECC则是带缓存寄存器且带ECC的内存。也就是说你要是用带ECC的 RAM 首先必须要CPU 支持。RDIMM 则需要主板和CPU都要提供支持才可以。 UDIMM中non-ECC和unbuffered的区别在于C
2021-09-27 14:22:08
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原创 uefi shell command
常用命令解释如下：ver will show the shell version 展示shell的版本号 reconnect -r all EFI drivers should be reconnected 重新连接EFI驱动 alias all Alias should be displayed 显示，创建，删除别名 dmem memory contents are displayed 显示内存目录 connect some de.
2021-05-24 17:29:18
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转载 Memory testing 11----Fuctional RAM Modle------Disturb Fault (DF)
九、 干扰故障如果干扰单元被读写，则被干扰单元会被置0或置1。Disturb Fault (DF) Victim cell forced to 0 or 1 if we read or write aggressor cell (may be the same cell)
2021-04-08 08:26:19
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转载 Memory testing 10----Fuctional RAM Modle------Recovery Fault (RF)
八、 恢复故障 1、 感应放大器恢复故障：经过长时间的读写0或1后，感应放大器饱和； 2、 写恢复故障：在不同位置的读写导致某个相同位置的读写； 3、 功能性故障：以高速率进行检测测试。Recovery Fault (RF) Sense Amplifier Recovery Fault (SARF) Sense amp saturation after reading/writing long run of 0 or 1...
2021-04-07 18:27:40
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转载 Memory testing 9----Fuctional RAM Modle------Stuck-Open Fault (SOF)
七、开路故障：由于断线的原因，存储单元无法被访问到。 Stuck-Open Fault (SOF)：Cell not accessible due to open cell or broken line.
2021-04-07 14:42:22
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转载 Memory testing 8----Fuctional RAM Modle------Bridging Fault (BF)
六、桥接故障：存储单元短路Bridging Fault (BF) Short between cells AND type or OR type A short between cells or lines (2 or more)This is a bidirectional fault caused by logic level rather than a transitionTwo sorts of bridging faults (BFs) ex...
2021-04-07 14:18:48
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转载 Memory testing 7----Fuctional RAM Modle------Neighborhood Pattern Sensitive Fault (NPSF)
五、相邻图形敏感故障：主动激发的动态型的故障、被动型的故障、静态型的故障。Neighborhood Pattern Sensitive Fault (NPSF)：A subset of the Pattern Sensitive Fault (PSF)Active (Dynamic) NPSF Passive NPSF Static NPSF...
2021-04-07 12:25:56
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转载 Memory testing 6------------Fuctional RAM Modle------------Coupling Fault (CF)
四、 耦合故障 4.1 状态耦合故障：当一个单元处于某个状态值时，另一个耦合单元被置0或1。 4.2 翻转耦合故障：当一个单元发生上升沿跳变或下降沿跳变时，会引起另一个单元内容的翻转。 4.3 幂耦合故障：当一个单元发生上升沿跳变或下降沿跳变时，会迫使另一个单元内容置0 或置1。 4.4 动态耦合故障1、State Coupling Fault (CFst)：Coupled (victim) cell is forced to 0 o...
2021-04-07 12:16:03
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转载 Memory testing 5--------Fuctional RAM Modle--------Transition Fault (TF)
3、转换故障：存储单元从0转换到1或从1转换到0失败；Transition Fault (TF) Cell fails to transit from 0 to 1 or 1 to 0 Definition: A cell that fails to undergo a 0 to1 transition when it is written is said to contain an up transition fault A down transition fault..
2021-04-07 11:58:59
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转载 Memory testing 4--------Fuctional RAM Modle--------Stuck-At Fault (SAF)
Stuck-At Fault (SAF) Cell (line) SA0 or SA1 Definition: The logic value of a stuck-at (SA) cell or line is always 0 or 1. It is always in state 0 or in state 1 and cannot be changed to the opposite state Detection requirement: From each cell or li
2021-04-07 11:29:13
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转载 Memory testing 3--------Fuctional RAM Modle--------Address-Decoder Fault (AF)
Address-Decoder Fault (AF) No cell accessed by certain address Multiple cells accessed by certain address Certain cell not accessed by any address Certain cell accessed by multiple addresses
2021-04-07 11:20:15
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转载 Memory testing 2--------Catogories
参考：https://booksite.elsevier.com/9780123705976/errata/13~Chapter%2008%20MBIST.pdfhttp://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest/lecture/ch02.pdfhttps://link.springer.com/content/pdf/bbm%3A978-0-306-47972-4%2F1.pdf1、AC parametric tests* Measure s...
2021-04-07 11:08:10
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转载 Memory testing 1--------Introduction
参考：https://booksite.elsevier.com/9780123705976/errata/13~Chapter%2008%20MBIST.pdfhttp://www.ee.ncu.edu.tw/~jfli/memtest/lecture/ch02.pdfhttps://link.springer.com/content/pdf/bbm%3A978-0-306-47972-4%2F1.pdf一、背景介绍内存测试越来越重要，主要原因如下：随机存储设备是现在电..
2021-04-07 09:52:11
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原创 Win10蓝屏代码
在使用Win10系统的过程中，有时会遇到蓝屏问题，蓝屏是Windows专有的一种错误， 蓝屏是操作系统为了保护硬件而产生的蓝屏，但蓝屏代码有上百种，一般由于遇到软件冲突、系统文件出错，驱动不兼容，硬件不稳定都会导致Win10系统蓝屏，那么如何知道蓝屏代码表示的是什么呢？这里提供Win10蓝屏错误代码大全供大家查询Win10蓝屏代码，大家可以在这里查询。由于蓝屏错误让您别无选择，只能重新启动，故障排除可能很困难。幸运的是，几乎每个STOP错误都包含一个基于十六进制的STOP代码，可用于研究修复程序
2020-11-16 11:44:54
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原创 DRAM Address Mapping(多通道卡槽定位和颗粒定位)
https://www.cnblogs.com/theseventhson/p/13406671.html
2020-09-10 19:43:57
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转载 内存测试软件
放假回到家里，被家里电脑的一条坏内存条折腾了好几天，最后才确定是内存的问题。开始发现win98系统经常出现非法操作时，就怀疑内存有问题，于是使用Memtest86+ v1.50检测，结果运行了1小时20分钟也没有发现错误，于是排除了内存的原因(Memtest86+的误报真是害人不浅)，开始怀疑是否是由于BIOS版本,cmos设置，机箱电源、硬盘、显卡、主板等引起的。用了IBM Drive Fitness Test v4.01,SeaGate Tools,ActiveSmart等工具检测了硬盘没有问题。又用其
2020-07-07 15:00:32
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原创 内存自建自动测试:Memory BIST(Built-inSelfTest)
参考链接：https://www.cnblogs.com/uiojhi/p/9430505.htmlhttps://www.docin.com/p-1653581041.htmlhttp://www.docin.com/p-1825745255.htmlATE：ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&am...
2020-07-07 14:59:04
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原创 UEFI（WIN10+VS2015+EDK2018）应用开发第一例
1.edksetup.bat2.build -p AppPkg\AppPkg/dsc -a X64main.c如下：//#include <Uefi.h>//#include <Library/UefiLib.h>//#include <Library/ShellCEntryLib.h>#include <stdio.h>/*** Demonstrates basic workings of the main()...
2020-05-10 15:19:40
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原创 如何从gitlab上克隆到本地仓库
方法1：git config --global user.name "wubo"git config --global user.email bo.wu@longsys.comgit clone ....方法2：ssh-keygenvim .ssh/id_rsa.pub
2020-03-25 16:32:41
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转载 计算机缓存Cache以及Cache Line详解
转载：计算机缓存Cache以及Cache Line详解 - 围城的文章 - 知乎 https://zhuanlan.zhihu.com/p/37749443L1，L2，L3 Cache究竟在哪里？ - 老狼的文章 - 知乎 https://zhuanlan.zhihu.com/p/31422201Cache是怎么组织和工作的？ - 老狼的文章 - 知乎 https://zhuanlan...
2019-12-24 09:14:46
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转载 Error Detection And Correction (EDAC)
COPIED FROM:http://fibrevillage.com/sysadmin/243-edac-error-detection-and-correctionhttps://01.org/linuxgraphics/gfx-docs/drm/driver-api/edac.html1. Error Detection And Correction (EDAC) D...
2019-12-17 14:39:39
5069
转载 内存硬件原理和内存初始化浅析
转载：内存系列一：快速读懂内存条标签 - 老狼的文章 - 知乎 https://zhuanlan.zhihu.com/p/26255460内存系列二：深入理解硬件原理 - 老狼的文章 - 知乎 https://zhuanlan.zhihu.com/p/26327347内存系列三：内存初始化浅析 - 老狼的文章 - 知乎 https://zhuanlan.zhihu.com/p/2638...
2019-12-17 10:46:30
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转载 内存系统：DRAM, DDR 与Memory Controller-之四
这一节打算回顾一下新式存储介质和新式存储方法传统存储介质的不足1. DRAM不是理想的内存DRAM大家用得很开心，而且已经服务大家几十年了，好像一谈到内存，那就是DRAM了，DRAM已经成了内存的代名词，有时候大家甚至觉得我们有DRAM已经足够了。这些都是普通消费者的想法，对于计算机科学的研究人员来说，DRAM并不一内存的理想选择。说DRAM是易失性存储器，是说掉电...
2019-12-16 15:50:41
5237
用于ARM64平台进行内存测试的EFI固件工具：MemTestAA64.efi
2023-02-25
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