从厚硅片到超薄芯片:硅片厚度背后的原理与应用
一、硅与摩尔定律
硅作为半导体电子学的基础,是现代通信社会技术的材料基石。它广泛渗透到我们生活的方方面面,让电子设备变得经济实惠且无处不在。英特尔联合创始人戈登·摩尔在1965年就认识到集成电路的巨大潜力,提出了著名的摩尔定律,即集成电路上可容纳的元器件密度大约每两年翻一番。这一定律在过去40多年里一直有效,推动了芯片复杂度和性能的提升,同时降低了成本。
随着时间推移,硅片直径显著增大,从1970年的2英寸增加到2000年的300毫米,面积增大了35倍,极大提高了芯片制造的生产率并降低了总成本。这种变化也使得芯片变得更加复杂和强大,如今先进的微处理器能在约1平方厘米的硅芯片上集成超过10亿个晶体管。摩尔定律还为半导体行业的发展提供了现实指导,是国际半导体技术路线图(ITRS)的基础,该路线图定义了每一代设备所需的技术要求,以实现进一步的小型化。
二、硅片尺寸与厚度的关系
- 尺寸与厚度的历史趋势
- 随着硅片直径的增大,其厚度也呈现出增加的趋势。不同直径的硅片对应着不同的厚度,例如2英寸硅片厚度为275μm,3英寸为375μm,100毫米为525μm,125毫米和150毫米分别为625μm和675μm,当前大量生产的200毫米和300毫米直径硅片厚度分别为725μm和775μm。
- 在200毫米硅片时代之前,硅片厚度大多是通过经验确定的。晶圆和器件制造商通过应用导向的实验来确定最佳厚度,并根据之前的经验达成共识。国际半导体设备与材料协会(SEMI)会为每个硅片世代指定标准的直径值。
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