数字IC笔记-scan chain

最新推荐文章于 2024-02-24 10:26:35 发布
原创 最新推荐文章于 2024-02-24 10:26:35 发布 · 9.5k 阅读 · 108 ·
CC 4.0 BY-SA版权
版权声明：本文为博主原创文章，遵循 CC 4.0 BY-SA 版权协议，转载请附上原文出处链接和本声明。
文章标签：

#芯片

scan chain

1.定义：
满足可测试性设计(DFT),将设计中所有的触发器连接到一条或者若干条链上，称为scan chain。将一个复杂的时序电路转换为简单的组合电路进行测试。这一步是在逻辑综合(DC)中实现.
在这里插入图片描述
当SE=1时，电路进入scan状态，当SI=0时，电路工作在normal状态。

2.为什么进行scan chain reordering：
在DC综合阶段，工具没有寄存器的物理位置信息，按照字母顺序做scan chain的插入，连接方式并不是最优的。
在ICC中place是基于time和congestion driven,所以原来寄存器在scan chain 中是前后级关系，在ICC中可能离得比较远，导致寄存器SI端走线很乱，加重design中的congestion issue问题。

3.如何做reordering
首先在逻辑综合阶段，写出scandef，其次在ICC中读入对应的scandef

        import_def scan.def
最低0.47元/天 解锁文章
DFT设计 与 芯片测试 ；Scan Chain； DC里的DFT的扫描链设计； 存在异步复位触发器时的扫描链设计；Scan-In Scan-Out
Jie_MSD的博客
07-10 1万+
DFT（Design for Testability ）该设计有助于提高可测试性，从而促进制造过程中的测试和调试，提高了芯片的可测试性和可靠性。没有一个制造过程是完美的，所以生成出的所有的芯片不是都能正常工作，因此，进行测试（例如DFT）是非常重要的，以确保只有功能正常的芯片被送出去用于后续的封装和应用。对于任何芯片设计，都会存在一定的失效率（Yield）。
Tessent对网表插入Scan Chain，你学废了吗？
limanjihe的专栏
03-30 1478
如何用Tessent对网表插入scan chain?
ICC图文流程——(三)布局Placement
weixin_46752319的博客
07-16 2万+
ICC布局阶段
SCAN CHAIN
diedai7174的博客
08-20 442
https://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzUzODczODg2NQ==&mid=2247485270&idx=1&sn=df1034f318f5954a99d33978176516da&chksm=fad26e88cda5e79eec77a163724dfae43f2ba1eb3f4eae371856e5fcea0070c590...
DFT scan chain
weixin_34178244的博客
03-29 4070
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检测芯片功能瑕疵。 DFT 第一步是做 scan chain，首先将电路中的普通 DFF 换...
DFT系列文章之 《DFT Scan chain》
那么菜的博客
02-24 2105
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX，于是多了几个 pin ：scan_in，scan_enable，scan_out。简单来讲，scan chain 工作时分为三个步骤： load ····> capture ····> unload。3. 在 SE 有效拉高时，将 input pattern 串行打入scan register。unload 是将scan chain 中的数据串行输出，得到 output pattern。2. 将 scan register 首尾依次串接起来。
DFT知识点扫盲——DFT scan chain
笨蛋大乌龟的博客
01-08 4583
实际在项目中synccell一般直接上ULVT，既然是SDF,就是带Scan接口的DFF，SN (set negtive)是低置位，RP（reset positive）是高复位，既没有SN也没有RP的就是无复位寄存器。1：定义：满足可测试性设计（DFT），将设计中所有的触发器连接到一条或者若干条链上，称为scan chain，将一个复杂的时序电路转换为简单的组合电路进行测试，这一步是在逻辑综合（DC）中实现。当SE=1当SI=1时，电路进入scan状态，当SI=0时，电路工作在normal状态。
Mentor-dft 学习笔记 day30-Pattern Generation for a Boundary Scan Circuit&MacroTest
qq_42327670的博客
11-28 831
Pattern Generation for a Boundary Scan Circuit&MacroTest
数字IC前端面试问题总结
m0_62079168的博客
08-30 5046
数字IC前端面试学习笔记总结
Mentor-dft 学习笔记
最新发布
08-16
add_registers_to_scan_chain -chain my_scan_chain -registers [get_registers] # 插入扫描链 insert_scan_chain -chain my_scan_chain # 保存修改后的设计 save_modified_design -file my_design_with_scan.v ``...
python职位占比_IC设计中人数占比最多的岗位—数字后端设计工程师
weixin_39968823的博客
12-20 1477
数字IC设计流程数字后端设计处于数字IC设计流程的后端，属于数字IC设计类岗位的一种。在IC设计中，数字后端所占的人数比重一直是最多的，而且随着芯片规模不断加大，后端工程师需要的人数将会越来越多。数字后端工程师是将门级网表转换成标准的GDS文件，又称为设计实现或物理设计。前端保证功能正确，后端保证芯片的实现正确。数字后端设计包含的东西比较多，像芯片封装和管脚设计，floorplan，电源布线和功率...
1. DFT 入门篇-scan chain
gaiyi8666的博客
06-21 2万+
DFT   --  design  for  test  三要素：辅助性设计， physical defects   结构性测试向量    是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical  defects  建立的 fault  model 进行求解产生的结构性测试向量， 这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。   scan  chain  包含两个步骤：...
数字IC笔记-scan chain 压缩和解压缩
sinat_41774721的博客
09-01 1万+
scan chain compress/decompress 1.Why scan chain compress ? 芯片设计规模愈来愈大，受到管脚数目的限制，scan chain变得越来越长 在DFT上的tese time就长，而test time是影响整个芯片成本的一个关键因素 2.在DFT上的tese time就长，而test time是影响整个芯片成本的一个关键因素 3.建立时间分析 D触发器输入和输出会有内部延迟，用TckTckTck表示，两个触发器之间有一段组合逻辑产生另外一个延迟，
DFT 入门篇-scan chain
flomingo1的专栏
10-12 2425
DFT -- design for test 三要素：辅助性设计， physical defects 结构性测试向量 是一种辅助性设计，利用这种辅助性设计 对根据 physical defects 建立的 fault model 进行求解产生的结构性测试向量， 这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。 scan chain 包含两个步骤： scan replacement scan stitching scan chain （synthsi...
3. DFT 入门篇-scan chain—design rule check set/reset问题
gaiyi8666的博客
06-30 7756
  做SCAN过程中需要考虑的问题     上一节讲到如果要进行SCAN rule  check 时出现 set/reset情况该如何处理 例子：复位信号不统一，做scan 会出现问题 这是用图直观的说明可能会出现的问题   两种方法一种是改设计，一种是用工具autofix，这里是用的工具自动修复 Tcl  中加入 下面一些约束   ： 注意active_state...
Tessent scan & ATPG (1)scan chain基本原理
热门推荐
旺旺家族的传说
11-19 2万+
从制造缺陷开始，介绍scan chain的基本原理
【ARM Coresight OpenOCD 系列 3 -- OpenOCD 常用命令与扫描链scan_chain】
CodingCos的博客
11-09 2111
在接口协议选择和复位相关的配置完成后，TAP的配置就需要进行了，有时很难知道当前使用的是什么TAP, 或者怎么去识别它们。： 是用于读取 AP 寄存器的值。name 是 DAP 的名字，apreg 是你想要读取的 AP 寄存器的名字。扫描链中的设备被分配一个唯一的TAP（Test Access Port）ID，它用于在链上识别和访问设备。总的来说，扫描链是JTAG调试的基础特性，OpenOCD提供了一系列命令和功能，用于配置和操作扫描链。：显示MEM-AP编号的ROM表，默认为当前选定目标的当前选定AP。
Scan chain/SE,SI,SO 带scan的寄存器
cy413026的博客
01-08 1万+
转自http://www.elecfans.com/d/652288.html 在Coarse Placement和Legalization之间，其实还有很重要的一个步骤， 就是对ScanChain（扫描链）的处理。英文名Scan Reorder，直译为扫描链重组。 那讲Scan Reorder之前，有必要对Scan Chain的基本知识做一定普及。Scan chain其实是可测试性设计（D...
SCAN chain
02-09
### SCAN Chain概述 在计算机科学和技术领域，SCAN链是一种特定类型的处理机制，通常用于数据检索和查询优化。然而，在提及SCAN链时，具体实现细节可能因应用场景而异。 对于基于Elasticsearch环境中的SCAN链操作，可以通过定义特定的检索器(retriever)，并利用提示模板来构建完整的查询链条[^2]： ```python retriever = es.as_retriever(search_kwargs={"k": 10}) template = """ Answer the question based only on the following context: {context} Question: {question} """ prompt = ChatPromptTemplate.from_template(template) chain = ( { "context": retriever | format_docs, "question": RunnablePassthrough() } | prompt | llm | StrOutputParser() ) ``` 这段代码展示了如何通过配置`retriever`对象以及设置相应的搜索参数(`k=10`)，从而获取最相关的文档片段作为上下文输入给后续环节使用。之后借助于预设好的对话模板(prompt)，可以有效地引导模型生成针对提问者的精准回复。 尽管上述方法提供了一种有效的方案来实施SCAN链逻辑，但在实际应用过程中仍面临诸多挑战。即使是最优秀的计算机视觉科学家们也已经为此努力了几十年的时间，但技术上仍然存在很大的改进空间[^1]。
评论
成就一亿技术人!
拼手气红包6.0元
还能输入1000个字符
 
红包 添加红包
表情包 插入表情
表情包 代码片
 条评论被折叠 查看
添加红包

请填写红包祝福语或标题

个

红包个数最小为10个

元

红包金额最低5元

当前余额3.43元 前往充值 >
需支付：10.00元
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付元
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明：

1.余额是钱包充值的虚拟货币，按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载，可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值