DFT scan chain

现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。

注意scan test 只能检测出制造瑕疵，无法检测芯片功能瑕疵。

 

DFT 第一步是做 scan chain，首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF：

scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX，于是多了几个 pin ：scan_in，scan_enable，scan_out

换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来，就构成了一条 scan chain ：