18、DRAM技术全解析:从基础操作到性能优化

DRAM技术全解析

DRAM技术全解析:从基础操作到性能优化

1. DRAM基本操作与时序

DRAM(动态随机存取存储器)的基本操作主要包括输出使能(OE)、地址选择和数据输入输出。
- 输出使能(OE) :OE信号为低电平时有效。在读取操作中,当OE为低时,数据一旦可用就会出现在数据输出端;而在写入操作时,OE应置为高电平。
- 地址 :地址用于选择芯片上的存储位置。存储设备的地址引脚采用复用技术,用于行和列的选择。
- 数据输入输出 :DRAM的数据引脚既用于输入也用于输出。写入操作时,数据引脚的数据会被存储到选定的存储单元;读取操作完成且OE为低电平时,选定存储单元的数据会出现在数据引脚上。

1.1 读取数据

从DRAM存储单元读取数据时,需按以下时序步骤操作:
1. 在行地址选通信号(RAS)变为低电平之前,将行地址施加到存储设备的地址输入引脚。
2. RAS从高电平变为低电平,并保持低电平一段时间(tRAS)。此时,由行地址指定的存储行被打开,选定行中存储单元的电荷开始流向位线。
3. 在列地址选通信号(CAS)变为低电平之前,将列地址施加到存储设备的地址输入引脚。
4. 在CAS转换之前,写使能信号(WE)必须设置为高电平以进行读取操作,并在CAS转换后保持高电平。
5. 经过规定的时间(tRCD)后,CAS从高电平变为低电平,并保持低电平一段时间(tCAS)。RAS到CAS的延迟时间(tRCD)确保选定存储单元的电荷到达位线,并被灵敏放大器正确感应。
6. 数据出现在存储设备的数据

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