一种集成芯片测试装置

对于芯片的量产测试，行业内有使用ATE，但是对于ATE我的理解测试成本贵，并且要测试的集成芯片比较特殊的话，功能需要二次设计，对于集成芯片的FT测试，本人有设计一个装置，下面上几张图片，作为2016年9月份的劳动成果，做个纪念，首先提出原理图，见下面

上面是原理顶层总图

上面是与分选机和Handler连接通讯的原理图

上面是电源部分

该装置是4site的，上面是第1site原理图

该装置是4site的，上面是第2site原理图

该装置是4site的，上面是第3site原理图

该装置是4site的，上面是第4site原理图，下面给出PCB和实物图

作者QQ：1182914196

日期：2016-10-6