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原创 芯片测试(一)O/S测试
原理相同,但有些测试机的DPS(Device Power Supply)资源不支持加流测压的功能,可以视情况改用加压测压(小电流挡位,一般低于1mA)或加压测流(小电流挡位)的方式进行测试,同时需要注意电源Pin是否加了滤波电容,防止因电流过小电容未充满电,O/S即OpenShort的缩写,即开路、短路,一般放在芯片测试的第一道,是后续测试的基础,测试首先是要将测试环境与DUT(Device Under Test)建立起良好的电气连接。图1 DUTPin 灌/拉电流示意图。
2023-06-15 10:21:11
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空空如也
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