5、VLSI测试与测试经济学解析

VLSI测试与测试经济学解析

1. VLSI电气参数测试

在VLSI（超大规模集成电路）测试过程中，电气参数测试是重要的一环，它主要包括以下几种测试类型：
- 功耗测试 ：该测试用于找出静态（输入逻辑值稳定）和动态（操作期间输入动态变化）情况下的最坏功耗情况。
- 输出短路电流测试 ：此测试验证在高和低输出电压下输出电流驱动是否能够持续。
- 输出驱动电流测试 ：对于指定的输出驱动电流，该测试验证输出电压是否能保持稳定。
- 阈值测试 ：该测试确定使器件输出从高到低（或从低到高）切换所需的输入电压。
- 交流参数测试 ：在交流参数测试中，我们向芯片施加一组特定频率的交流电压，并测量终端阻抗或动态电阻（电抗）。同时，会选择一个直流偏置电平进行这些测试，以确定由输入和输出电容引起的芯片延迟。但该测试不提供功能数据或直流参数的信息。
- 上升和下降时间测试 ：用于测量信号的上升和下降时间。
- 建立、保持和释放时间测试 ：这些时间的测量总是在输入信号的50%点和时钟信号的50%点之间进行。输入数据应在时钟锁存边缘（图中为下降沿）之前的建立时间间隔和之后的保持时间间隔内存在。释放时间与存储器相关，是输入可以存在而不被采样的最大间隔。
- 传播延迟测试 ：传播延迟是输入状态变化与相应输出变化之间的时间，在50%电压电平之间测量，并以最小和最大时间对指定