电子测试与故障诊断知识概述
1. 基本概念与测试类型
1.1 测试类型
电子测试领域包含多种测试类型,如DC测试(DC testing)、功能测试(functional test)、参数测试(parametric test)等。DC测试主要针对直流特性进行检测,包括DC模拟故障仿真(DC analog fault simulation)、DC偏移误差(DC offset error)等方面。功能测试则侧重于验证设备的功能是否符合预期,通过施加特定的输入信号,观察输出结果来判断设备是否正常工作。参数测试则是对设备的各项参数进行测量,如增益误差(gain error)、积分非线性(INL)等。
1.2 故障类型
故障类型多种多样,常见的有延迟故障(delay fault)、固定故障(stuck - at fault)、动态耦合故障(dynamic coupling fault)等。延迟故障可能会导致信号传输延迟,影响设备的性能;固定故障则是指信号固定为高电平或低电平,使得设备无法正常工作;动态耦合故障则是由于电路中元件之间的动态耦合效应引起的故障。
| 测试类型 | 描述 |
|---|---|
| DC测试 | 针对直流特性检测,含模拟故障仿真、偏移误差检测等 |
| 功能测试 | 验证设备功能是否符合预期 |
| 参数测试 |
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