69、电子电路测试与设计相关知识概述

电子电路测试与设计相关知识概述

1. 文献研究领域概述

在电子电路领域，众多学者进行了广泛而深入的研究，涵盖了数字逻辑仿真、模拟电路故障仿真、测试方法、半导体存储器测试等多个方面。以下为部分研究方向的文献示例：
|序号|研究方向|文献示例|
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|1|数字逻辑仿真|E. W. Thompson和S. A. Szygenda的“Digital Logic Simulation in a Time-Based Table-Driven Environment; Part 2. Parallel Fault Simulation”|
|2|模拟电路故障仿真|M. W. Tian和C.-J. Shi关于模拟电路故障仿真的多篇文献，如“Rapid Frequency-Domain Analog Fault Simulation under Parameter Tolerances”等|
|3|半导体存储器测试|A. J. van de Goor的“Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice”|

2. 关键概念解释

• 可控制性与可观测性 ：可控制性分为0 - 可控制性和1 - 可控制性，可观测性分为0 - 可观测性和1 - 可观测性，它们是评估电路测试性的重要指标。例如，在组合电路中，组合0 - 可控制性和组合1 - 可控制性用于衡量对电路输入的控制能力，组合可观测性用于衡量对电路输出的观测能力。
• 故障模型 ：包括多种类型，如A