3、VLSI电路验证与3值抽象模型检查的综合探讨

VLSI电路验证与3值抽象模型检查的综合探讨

一、VLSI电路验证相关内容

在VLSI电路验证领域，确定同步器故障概率是一个重要的研究方向。通过特定算法计算间隔宽度，能有效处理同步器故障概率问题，且不会出现数值计算困难。相关研究成果不仅能计算故障概率，还能生成波形，展示特定电路中 metastability 故障的发生情况。研究软件已被工业界应用，揭示了先前未被考虑的故障模式，并为改进商业设计中的同步器电路可靠性提供了思路。

不过，从形式验证的角度来看，目前的同步器验证方法还不能严格意义上算作形式验证。因为没有同步器是完美的，无法证明同步器永远不会故障，只能证明其故障概率在可接受范围内，但当前技术多为实用的数值方法，缺乏严格的证明。然而，这类研究对形式方法社区仍有重要意义，它源于与电路形式验证相同的动态系统视角，为计算同步器故障概率开发了许多概念工具和软件。并且，在分析工具建议对设计进行更改时，虽然未进行形式验证，但通过多种方法仔细检查结果，形式正确性证明将为使用这些新方法提供更多信心，是未来有价值的研究方向。

除了同步器验证，还有其他一些“中间示例”。例如，Kurshan和MacMillan首次发表了关于电路级验证的研究，他们验证了一个仲裁器，使用了较为现实的晶体管模型和真实电路，不过其验证假设仲裁器输入瞬间变化。Dastidar和Chakrabarti为模拟电路实现了一个模型检查器，他们离散化状态空间并使用SPICE模拟来实现下一状态关系，还将离散化扩展到可能的输入波形，提出了系统的状态转换枚举过程，并验证了多个电路的属性。

近期，研究人员还验证了Kurshan和MacMillan仲裁器的CMOS对应电路，使用Brockett的环形结构来指定允许的输入转换