在插Tessent mbist的时候,如果没有Tessent OCC,又想留一条mbist 低速测试的debug路径,则需要在Memory clk和bist_clk共同路径节点处插一个mux。bist_clk实质是Memory clk中的一路clock,即bist_clk是选的memory clk中的一个,所以这个mux是插在memory clk上面的,可能会影响到memory的clock delay从而影响memory性能。
插入的tessent_persistent_cell_tck_mux_*_inst,可以指定其插在port上,也可以说buf或者ckcell的output pin上面,具体位置在spec中指定node就行。
spec加入一个TCKInjectionPoints的Wrapper指定:
同时,在生成mbist的tck脚本还要加个生成tck_select信号tdr的设置:
电路生成之后,正常情况下默认是不用TCK作为Memory clock用的,只有debug的时候才用TCK的clock作为Memory clock低速测试。即pattern重新生成低速TCK的pattern,而pattern spec就需要指定一个tck_clock_only:on的设置: