新兴技术中的容错伽罗瓦域乘法器设计
1. 引言
现代计算硬件需要更强大的处理能力来高效、快速地执行复杂计算。然而,根据 ITRS - 2009 调查,CMOS 器件进一步缩小尺寸受到限制,超过 20nm 几何尺寸后性能会变差。而基于碳纳米管场效应晶体管(CNTFET)和量子点元胞自动机(QCA)的新兴数字电路,有望成为传统 CMOS 技术的潜在替代品。
这些新兴技术的器件尺寸缩小到纳米级别,传输信息所需的能量降低,但这也使得计算更容易受到瞬态故障和各种制造缺陷的影响。例如,独立的密码学硬件就会受到严重影响。几十年前,英特尔就曾报告过芯片因封装材料中的辐射粒子干扰而出现故障。研究还表明,集成电路内处理的数据可以通过辐射效应进行分析和解码。
如今,密码处理器在银行交易、数字版权管理、电视机顶盒、智能卡、移动通信等领域有着关键应用。故障可能是自然产生的,也可能是恶意造成的,会导致输出出现多位错误,后果可能是灾难性的。密码处理器中算术逻辑单元的主要组件是伽罗瓦域(GF)乘法器,它比其他单元大,更容易受到辐射粒子的影响,因此成为新兴技术设计中攻击的主要目标。在正常操作中,能量粒子与纳米级器件接触会导致计算结果出错。恶意攻击者可以在实验室环境中对密码芯片进行可控辐射,通过观察芯片因瞬态故障而产生的行为变化,了解芯片内部信息,且不会永久损坏芯片。
本文旨在研究使用 CNTFET 和 QCA 等新兴技术实现的位并行 GF 乘法器上多种错误检测方案的性能指标,如功耗和延迟。
2. 先前研究
目前针对 GF 乘法器和其他 GF 电路的多种错误纠正方案主要针对 CMOS 技术,同时也对 CNTFET 和 QCA 电路的容错研究进行了简要回
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