PCL和VTK的解读

这篇博客介绍了如何使用PCL库处理点云数据,包括去除包含NAN值的无效点,以及计算点云表面的法线。去除NAN点有助于确保数据质量,而计算法线对于理解点云表面特性至关重要。博客中提到了VTK的向后不兼容变更,并简单提及了SetInputData和SetInputConnection的使用。

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PCL

1.去除NAN点

//一个NaN表明测量传感器距离到该点的距离值是有问题的,可能是因为传感器太近或太远,或者因为表面反射

pcl::removeNaNFromPointCloud(*cloud_src_o, *cloud_src_o, indices_src);//其中第一个参数为初始点云,第二个参数为去除无效点后的点云,索引为输出点云在输入点云中的索引

2.计算点云表面法线

//点云的表面的法线被定义为垂直于与点云表面相切的平面的向量,由K个最近点拟合出的平面法向量即当前扫描点的法向量

VTK

1.VTK6引入了一些向后不兼容的更改。这里更详细地描述了这些变化背后的原因。其中一个更改是使用SetInputData()和SetInputConnection()替换SetInput()

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