回到首页:2023 数字IC设计秋招复盘——数十家公司笔试题、面试实录
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题目背景
- 笔试时间:2022.08.07
- 应聘岗位:数字IC设计
- 笔试平台:赛码
题目评价
- 难易程度:★★★★★
- 知识覆盖:★★★☆☆
- 超纲范围:★★★☆☆
- 值得一刷:★★★☆☆
文章目录
- 单选题 4分
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- 1 下列关于DFT测试故障模型描述错误的是
- 2 下列关于芯片的电压降(IR Drop)描述错误的一个是
- 3 camera sensor可以通过以下哪类接口接入SOC?
- 4 两个模块之间采用vld-rdy接进行数据传输。path峰值吞吐为1 data/cycle. 现要在两个模块之间插入vld-rdy的register slice(这里可以理解为一个输入输出都带握手的fifo)。如果要保证path最大吞吐不受限,且打断两个模块之间的逻辑依赖,register slice的深度至少为多少?
- 5 信源编码和信道编码的主要目的分别是?
- 6 数字芯片开发常用Verilog/SystemVerilog作为开发语言,描述层次通常为寄存器传输级,代码风格要求可综合,以下代码中哪一项是可综合的
- 7 处理器是现代SOC内部非常重要的一个部件,其作用类似人的大脑,掌管所有的身体活动;指令集是连接软件和硬件的桥梁,是二者交互的“语言"。处理器可以分为冯诺依曼结构和哈佛结构,指令集可以分为RISC (精简指令集)和CISC (复杂指令集),以下关于处理器和指令集说法错误的是
- 8 下图为组合逻辑Y=f (x1,x2,x3,x4) 的真值表,请根据真值表选择Y的逻辑表达式
- 9 根据如下代码和波形图,代码仿真的结果是
- 10 关于以下约束,描述正确的是()
- 11 assign a=b\*c+d\*e;这行代码假设a的位宽定义不够,导致有溢出风险,已知b, C, d, e的取值范围,以下哪种覆盖率可以有效覆盖此bug?
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- 多选题 4分
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- 1 下列关于DFT测试描述正确的是
- 2 下列关于DFT测试类别描述正确的是
- 3 下列关于芯片中信号串扰描述正确的是:
- 4 下列哪些对改善setup timing有帮助
- 5 关于STA,以下描述正确的是
- 6 关于芯片RTL综合,以下描述正确的是?
- 7 以下哪类访问LPDDR4的操作会导致性能下降?
- 8 以下哪些技术手段可以降低静态功耗
- 9 以下的单比特逻辑运算中,与`Z=!((A&B)|C|D)`等价的是
- 10以下有关SV/UVM语法的描述,正确的是()
- 11 如果 class A 继承自 class B ,则以下的描述中,不正确的是()
- 12 关于验证以下说法正确的是:
- 13 设定import pkg的源文件已经放在filelist中,现有以下四个pkg文件
- 14 FPGA综合器在综合四则运算(加减乘除)的硬件语言时可能映射的底层资源是
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单选题 4分
1 下列关于DFT测试故障模型描述错误的是
- A 用于制造缺陷的行为级抽象