混合信号PCB的接地设计是“抑制噪声传导”的核心环节——地平面上的毫伏级噪声(如数字电路开关产生的50mV噪声)通过共地路径耦合至模拟电路,可能导致mV级模拟信号完全失真。行业数据显示,混合信号系统中60%的干扰问题源于不合理的接地设计。与“单一接地平面”的简单思路不同,科学的接地设计需根据信号频率、系统架构选择“单点接地、多点接地或平面分割”,并精准控制接地阻抗与环路面积。

一、接地方式选择:频率决定架构
接地方式的核心判断依据是信号最高频率(f)与波长(λ=c/f,c为光速)的关系:
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低频场景(f<1MHz,λ>300m):采用单点接地,所有接地汇集于一点,避免形成接地环路(环路会拾取磁场干扰);
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实施要点:模拟地与数字地通过0Ω电阻、磁珠或 ferrite bead 单点连接,连接点靠近ADC/DAC(距离<5mm);
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示例:温度传感器电路(信号频率<1kHz),AGND与DGND在ADC的GND引脚处通过0Ω电阻连接,接地路径电阻<5mΩ;
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高频场景(f>10MHz,λ<30m):采用多点接地,接地平面上多点就近接地,降低高频阻抗(高频下接地阻抗随长度增加而增大);
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实施要点:模拟元件与数字元件分别就近连接至各自接地平面,平面间通过多个过孔(间距<λ/20,如100MHz信号λ=3m,过孔间距<15cm)连接;
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示例:100MHz射频模块,AGND平面与DGND平面在PCB边缘每5cm设一个连接过孔,总连接电阻<2mΩ;
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混合频率场景(1MHz<f<10MHz):采用分区接地平面,模拟区与数字区接地平面独立,边界处单点连接,兼顾低频与高频需求。
二、接地平面分割:物理隔离的边界控制
平面分割是混合信号接地的常用手段,但错误分割会导致“接地阻抗升高”或“新的干扰路径”,核心规范:
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分割边界设计:
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边界线笔直无拐角(拐角易产生尖端放电效应,增加辐射),宽度≥2mm的隔离带(无铜区域);
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模拟区与数字区面积比根据电路规模确定(如8位ADC系统,模拟区占比50%-60%);
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跨区信号处理:
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跨区信号线(如ADC的数字输出)需垂直穿越分割边界(避免平行于边界产生边缘耦合),穿越处下方设置“接地孤岛”(面积≥1cm²),通过单个过孔连接两侧地平面;
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禁止高速数字线(>50MHz)穿越分割边界,必须穿越时需加屏蔽(如包地处理,屏蔽层与两侧地平面各通过2个过孔连接);
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过孔布置:
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接地平面过孔密度:每平方厘米至少1个过孔(直径0.3mm),降低平面阻抗(35μm铜箔+1个过孔/cm²,阻抗可<5mΩ);
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模拟地平面过孔远离数字噪声源(如晶振、处理器),距离≥10mm。
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三、常见接地错误与优化方案
错误1:模拟地与数字地直接相连形成大面积环路
某心电监测PCB将AGND与DGND在PCB两端各连一点,形成面积20cm²的接地环路,50Hz工频干扰耦合导致信号噪声达5mV;优化为单点连接后,环路面积<1cm²,噪声降至0.5mV。
错误2:接地平面存在开槽或断点
某工业传感器PCB在模拟地平面开槽(宽度1mm)铺设数字线,导致模拟地阻抗从8mΩ升至50mΩ,信号失真度从0.1%升至1%;取消开槽,改为数字线从接地平面上方跨越(下方保持完整平面),阻抗恢复至10mΩ,失真度0.15%。
错误3:跨区元件接地不合理
ADC芯片一半位于模拟区、一半位于数字区,AGND引脚接模拟地,DGND引脚接数字地,两引脚间距5mm,导致芯片内部地噪声达30mV;将ADC整体置于模拟区边缘,DGND引脚通过0Ω电阻就近连接至AGND,噪声降至5mV。
四、接地性能验证方法
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阻抗测试:用LCR表测量接地平面两点间阻抗(1kHz-100MHz),目标<20mΩ;
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噪声测量:用示波器AC耦合(带宽20MHz)测量模拟地与数字地之间的噪声,低频系统<10mV,高精度系统<1mV;
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EMI测试:在暗室中测试PCB辐射(30MHz-1GHz),峰值需低于标准限值(如CISPR 32 Class B:30-230MHz≤54dBμV/m)。
混合信号PCB接地设计的核心是“控制接地阻抗与环路面积”,低频注重避免环路,高频注重平面完整性,实际设计需结合信号频率与系统架构灵活选择,通过精准的边界控制与过孔布置,实现“模拟地纯净、数字地低阻”的双重目标。
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