28、数字电路测试与半导体内存测试全解析

数字电路测试与半导体内存测试全解析

顺序电路测试生成问题

顺序电路测试生成包含多个重要问题，以下为你详细介绍：
1. 特定故障测试获取
- 对于图中电路里的A s - a - 0故障，无法运用D - 演算的五值逻辑获取测试，但可使用九值逻辑得到该故障的测试。
- 推导图中电路A s - a - 1故障的测试，并判断该测试是明确检测还是潜在检测。
2. 多重观察测试设计 ：为图中所示故障设计多重观察测试，同时探讨反馈路径中的反相器短路时，多重观察测试是否仍可行。
3. 可驱动性计算 ：计算图中电路在B s - a - 0故障下所有线路的可驱动性。
4. 近似测试推导 ：对于单时钟同步顺序电路，利用其组合部分推导测试向量以检测输出Z处的A s - a - 0故障，找出正当化序列，验证测试序列在故障始终存在时是否有效，若无效则推导替代测试。
5. 故障不可测试性证明
- 证明在独立组合逻辑中不可测试的故障，在顺序电路中同样不可测试。
- 若无法使用无故障时间帧对同步顺序电路组合逻辑中的故障测试向量进行正当化，则该故障不可测试。
6. 伪组合电路测试
- 通过将图中电路的所有触发器用短路线替换，得到伪组合电路，推导该电路中D s - a - 0故障的测试，并验证重复该向量三次可检测原顺序电路中的D s - a - 0故障。
- 证明若能为伪组合电路中的故障获取组合测试向量，将该向量重复