5、半导体存储器测试技术全面解析

半导体存储器测试技术全面解析

1. 存储器概述

半导体存储器广泛应用于各种电子和微电子设备中，从日常的个人电脑（PC）到最新一代的个人数字助理（PDA），以及从汽车电子到日常家用产品的嵌入式系统。其主要功能是存储数据和程序代码，并能以合适的方式进行访问和修改。

存储器的关键驱动因素包括增加容量、提高运行速度以及降低用户购买成本。从数据/程序存储目的来看，存储器可分为以下三类：
- 永久存储 ：存储的值只能在应用程序中读取，若要更改（如果可能），需将存储器从应用中取出并更换。例如，基于微处理器的嵌入式系统中的程序代码，通常不需要更改。
- 半永久存储 ：存储的值通常只读，但在存储器仍在电路中时，可能需要根据需要修改存储的值。例如，基于微处理器的系统中，程序代码需要定期轻松升级。
- 临时存储 ：为临时使用而存储值，需要快速访问（如计算机系统中当前运行所需的程序代码，使用完后可移除）和/或修改（如程序中使用的数据的临时存储）。

存储器主要分为只读存储器（ROM）和随机存取存储器（RAM，也称为读写存储器或RWM）两种类型，具体分类如下表所示：
| 类型 | 细分类型 |
| ---- | ---- |
| ROM | 掩膜可编程ROM、可编程只读存储器（PROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM，使用紫外线擦除）、电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）、闪存（Flash） |
| RAM | 静态随机存取存储器（SRAM）、动态随机存取存储器（DRAM）、同步动态随机存取存储器（SDRAM）、双倍