集成电路测试工程全解析:从基础到前沿趋势
1 集成电路开发核心要素
在集成电路(IC)产品的开发与制造中,设计、制造和测试是三个关键工程领域。传统上,这三个领域各自独立,界限分明。设计主要是将IC规格转化为符合性能目标的工作电路,并以数据库形式呈现给制造环节;制造则是把完成的设计转化为物理IC;测试的重点是确保制造出的电路符合性能要求,且无故障、在工艺公差范围内。
然而,多年来各领域间形成的壁垒导致沟通不畅,影响了整体效率。如今,随着设计复杂度增加、新工艺出现、测试问题增多以及降低成本的需求,半导体行业开始努力打破这些壁垒,特别是加强设计与测试的联系,采用可测试性设计(DfT)方法,将设计和测试融合为一个新领域。
1.1 各领域的具体职责
领域 | 主要职责 |
---|---|
设计 | 将IC规格转化为工作电路,评估模拟并以数据库形式交付 |
制造 | 将设计转化为物理IC,提供晶圆、裸片或封装设备 |
测试 | 确保制造的电路符合性能目标,无故障且在工艺公差内 |
1.2 各领域间的互动需求
不同工程师之间存在着特定的互动需求,以确保整个开发过程的顺利进行:
- 测试工程师与设计工程师