27、顺序电路测试生成技术解析

顺序电路测试生成技术解析

1. 顺序电路测试生成阶段分析

顺序电路测试生成通常包含多个阶段，下面详细介绍各阶段内容。

1.1 阶段二：定向搜索

在这个阶段，已检测到的故障会从考虑范围内排除。试验向量的生成方式与初始化阶段类似，其成本通过并发故障模拟器（CFS）的结果获取。在模拟之前，会从主输出开始对门进行分层，门的层级直接反映了它与主输出的距离，利用故障电路门的层级能轻松计算试验向量的成本。当当前向量的所有单比特变化都无法降低成本时，并发阶段停止，这通常发生在目标集合中剩余故障数量较少的情况下，此时故障的测试向量在向量空间中分布稀疏，集体成本函数无法提供有效指导。

1.2 阶段三：单故障检测

此阶段的成本函数基于类似SCOAP的可测试性度量。在SCOAP中，每个信号被赋予三种度量：1 - 可控性、0 - 可控性和可观测性，这些度量均为整数值，值越高表示控制或观测该信号可能越困难。在阶段三中，可测试性度量是动态计算的，其值取决于电路结构和输入向量。

动态1和0可控性（DC1(i)和DC0(i)）与改变主输入的最小数量以及控制节点i的值为1或0所需的额外向量的最小数量相关。改变输入的数量定义为动态组合可控性（DCC），所需向量的数量称为动态顺序可控性（DSC），为了使测试序列更短，DSC的权重比DCC更重。例如，DC1(i)和DC0(i)可以是DCC和DSC的加权和，如DSC乘以100加上DCC。

检测固定故障时，测试生成器首先要找到激活故障的向量序列，即设置故障点的适当值（与故障状态相反），然后找到另一个序列来敏化路径，将故障影响传播到主输出。因此，成本函数应反映激活和传播故障所需的努力。激活成