29、集成电路测试技术解析

集成电路测试技术解析

1. 定制电路测试资源与策略

在定制电路测试中，标准仪器并非唯一选择。对于特定的定制电路，可采用专门设计的测试台来满足其特定测试需求。同时，数字信号处理（DSP）技术在测试过程中的应用也日益广泛。

原始设备制造商（OEM）与供应商讨论模拟定制集成电路的测试至关重要，因为供应商可能缺乏对最终产品要求和关键参数的第一手了解。对于非常复杂的模拟电路，设计和测试可能超出刚开始使用定制集成电路的OEM的能力范围，此时供应商或专业设计公司的专业知识和指导就显得尤为重要。

2. 混合模拟/数字电路测试

混合定制集成电路的模拟部分和数字部分的测试各有特点，通常需要将二者之间的接口引出到可访问的测试点，以便分别进行模拟和数字测试。这在一定程度上类似于上文中提到的混合模拟/数字仿真问题，由于涉及不同的信号特性，很难在一个仿真资源中同时处理这两部分。

对于相对简单的混合模拟/数字USIC，例如包含输入D - A转换器、一些简单内部信号处理和D - A输出转换器的电路，可能无需访问内部接口就能定义测试计划。但所有此类情况都需单独考虑，没有固定规则可循。目前有研究试图将模拟和数字测试整合到一个测试资源中，如使用多个离散电压电平表示模拟信号，或将数字信号视为电压受限的模拟信号，但目前尚无基于这些概念的商用仪器。

市面上有一些混合信号测试组件，如带有模拟和数字测试部分且在主机计算机控制下同步测试的资源。使用这些资源时，在设计阶段就需考虑其能力，以避免在原型或生产阶段遇到意外限制。

3. 数字测试模式生成

VLSI电路在数字逻辑测试中存在两个基本问题：
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