结构光相移法-多频外差原理与实践

结构光相移法-多频外差原理与实践

引言：
结构光相移法是一种常用的三维形貌测量技术，它通过对投射到目标物体上的结构光进行相位调制和解调，实现对物体表面的三维重建。其中，多频外差原理是结构光相移法的核心原理之一，通过使用不同频率的结构光来实现相位测量，并可以提高测量精度和抗干扰性能。本文将介绍结构光相移法的多频外差原理及其实践应用，并提供相应的源代码。

一、多频外差原理
多频外差原理是指在结构光相移法中，通过使用多个不同频率的结构光进行相位调制和解调。具体实现过程如下：

1. 生成多个不同频率的结构光：常见的结构光包括正弦光条纹、格雷码等，可以通过编程生成。为了实现多频外差原理，需要生成两个或多个不同频率的结构光。
2. 投射结构光并获取图像：将生成的结构光投射到目标物体上，使用相机获取物体表面的图像。
3. 相位调制：将不同频率的结构光与目标物体表面的图像进行叠加，通过相位调制将不同频率的结构光信息编码到图像中。这可以使用正弦函数来实现，即将结构光与图像进行点乘或相关运算。
4. 相位解调：对经过相位调制后的图像进行解调，提取出各个频率的结构光信息。一般采用傅里叶变换或相关运算等方法进行解调。
5. 相位差计算：通过对相位解调后的图像进行计算，得到每个像素点的相位差信息。相位差可表示物体表面在空间中的高度或形貌信息。
6. 三维重建：根据相位