电子电路测试与设计相关研究成果综述
1. 引言
电子电路测试与设计是电子工程领域的重要组成部分,涉及到众多的技术和方法。本文将对一系列相关的研究成果进行综述,涵盖了从电路故障检测到测试模式生成,再到系统设计与优化等多个方面。
2. 电路故障检测与诊断
- 晶体管级故障检测 :M. K. Reddy等人在1985年的研究中提出了针对MOS电路的晶体管级测试生成方法,通过特定的算法来检测电路中的故障。
- 存储器故障检测 :D. S. Suk和S. M. Reddy在1979 - 1981年间发表了多篇关于半导体随机存取存储器(RAM)故障检测的研究,包括检测模式敏感故障的算法以及针对功能故障的March测试。
研究人员 | 研究内容 | 发表时间 |
---|---|---|
M. K. Reddy等 | 晶体管级测试生成方法 | 1985年 |
D. S. Suk和S. M. Reddy | 半导体随机存取存储器故障检测 | 1979 - 1981年 |
3. 测试模式生成
- 遗传算法应用