67、电路测试与设计相关研究综述

电路测试与设计相关研究综述

1. 引言

在电路设计与测试领域，众多学者和研究人员进行了大量的研究工作，涵盖了从测试算法到电路设计方法等多个方面。这些研究成果对于提高电路的可靠性、降低成本以及提高生产效率具有重要意义。本文将对相关的研究成果进行综述。

2. 测试算法研究

2.1 基于传递闭包的测试生成算法

Q. Lin提出了基于传递闭包的测试生成算法的高效技术。该算法旨在提高测试生成的效率，为电路测试提供更有效的解决方案。

2.2 顺序电路测试生成系统

S. Mallela和S. Wu开发了一个顺序电路测试生成系统，用于生成顺序电路的测试用例，提高了顺序电路测试的自动化程度。

2.3 故障模拟算法

C.-Y. Lo等人提出了用于MOTIS的高级故障模拟系统的算法，能够更准确地模拟电路中的故障情况。

3. 模拟电路测试研究

3.1 鲁棒测试标准设计

W. M. Lindermeir研究了模拟测试中鲁棒测试标准的设计，提高了模拟电路测试的准确性和可靠性。

3.2 特征观察推理的模拟测试

W. M. Lindermeir等人提出了基于特征观察推理的模拟测试方法，通过观察电路的特征来推断故障情况。

3.3 模拟电路故障检测

L. Milor和V. Visvanathan研究了模拟集成电路中灾难性故障的检测方法，能够及时发现电路中的严重故障。

4. 存储器测试研究

4.1 随机存