65、电子电路测试与设计相关研究综述

电子电路测试与设计相关研究综述

1. 测试基础与理论研究

在电子电路领域，测试基础与理论研究是确保电路性能和可靠性的基石。诸多研究围绕测试理论展开，为后续的测试技术和方法提供了坚实的理论支撑。
- 测试理论奠基之作 ：S. Chakravarty 和 P. J. Thadikaran 所著的《Introduction to Testing》于 1997 年出版，这本书为测试领域建立了全面的理论框架，涵盖了测试的基本概念、原理和方法，是测试领域的经典入门读物。
- 布尔向量与投影研究 ：A. K. Chandra 等人在 1983 年发表的 “On Sets of Boolean n-Vectors with All k-Projections Surjective” 深入探讨了布尔 n 向量集合与 k 投影的关系，为数字电路的逻辑分析提供了重要的理论依据。
- 可测试性度量评估 ：S. J. Chandra 和 J. H. Patel 在 1989 年的 “Experimental Evaluation of Testability Measures for Test Generation” 中，对测试生成的可测试性度量进行了实验评估，通过大量实验数据验证了不同度量方法的有效性和局限性，为测试生成算法的优化提供了方向。

部分研究成果对比

研究成果	发表时间	主要贡献