CF1458D Flip and Reverse

本文针对 CF1458D FlipandReverse 题目提供了解题思路及代码实现。通过分析字符串前缀和特性,利用贪心算法解决区间翻转和反转问题,构造出满足条件的最小字典序解。

CF1458D Flip and Reverse

CF1458D Flip and Reverse

题目还是挺清晰的,直接讲思路了。

首先考虑进行 d p \tt dp dp 或者贪心,但是直接进行感觉上无法处理上述的限制。

那么我们从限制进行考虑,最好去掉的限制显然就是数字相同,那么如果说进行对于字符串进行前缀和之后两个前缀和相同的位置 l − 1 , r l - 1, r l1,r 其实对应一个合法的 [ l , r ] [l, r] [l,r] 区间。

之后我们考虑区间翻转和反转正好就是反着遍历这段区间,那么我们对于权值 s i → s i + 1 s_i \to s_{i + 1} sisi+1 进行连边,那么这个肯定是一个环。我们直接对于已知的每一个环进行贪心即可。

那么本质上就是原串构成的一个合法的欧拉序列。

那么我们只需要求最小的欧拉序即可。

显然因为要让字典序最小那么我们优先放 0 0 0 其次放 1 1 1

但是对于当前字符的贪心需要证明一个结论:对于原图任意一个欧拉回路可以通过字符串的任意变换得到。

首先对于一个欧拉回路,那么肯定不会出现两个环中间连接一条链的情况。肯定是若干个环进行连接,对于两个交错的环我们直接拆开即可。

或者换一个方法来说,因为一个点变成了环之后可以遍历两次以及以上那么本质上就是若干个环互相嵌套。

对于不合法的情况也就是没有相邻连接的边。

#include <bits/stdc++.h>
using namespace std;

//#define Fread
//#define Getmod

#ifdef Fread
char buf[1 << 21], *iS, *iT;
#define gc() (iS == iT ? (iT = (iS = buf) + fread (buf, 1, 1 << 21, stdin), (iS == iT ? EOF : *iS ++)) : *iS ++)
#define getchar gc
#endif // Fread

template <typename T>
void r1(T &x) {
	x = 0;
	char c(getchar());
	int f(1);
	for(; c < '0' || c > '9'; c = getchar()) if(c == '-') f = -1;
	for(; '0' <= c && c <= '9';c = getchar()) x = (x * 10) + (c ^ 48);
	x *= f;
}

template <typename T,typename... Args> inline void r1(T& t, Args&... args) {
    r1(t);  r1(args...);
}

#ifdef Getmod
const int mod  = 1e9 + 7;
template <int mod>
struct typemod {
    int z;
    typemod(int a = 0) : z(a) {}
    inline int inc(int a,int b) const {return a += b - mod, a + ((a >> 31) & mod);}
    inline int dec(int a,int b) const {return a -= b, a + ((a >> 31) & mod);}
    inline int mul(int a,int b) const {return 1ll * a * b % mod;}
    typemod<mod> operator + (const typemod<mod> &x) const {return typemod(inc(z, x.z));}
    typemod<mod> operator - (const typemod<mod> &x) const {return typemod(dec(z, x.z));}
    typemod<mod> operator * (const typemod<mod> &x) const {return typemod(mul(z, x.z));}
    typemod<mod>& operator += (const typemod<mod> &x) {*this = *this + x; return *this;}
    typemod<mod>& operator -= (const typemod<mod> &x) {*this = *this - x; return *this;}
    typemod<mod>& operator *= (const typemod<mod> &x) {*this = *this * x; return *this;}
    int operator == (const typemod<mod> &x) const {return x.z == z;}
    int operator != (const typemod<mod> &x) const {return x.z != z;}
};
typedef typemod<mod> Tm;
#endif

//#define int long long
const int maxn = 5e5 + 5;
const int N = 5e5 + 5;
char s[maxn];
int n, m;

int cnt[maxn * 2][2];

void Solve() {
    int i, j;
    scanf("%s", s + 1);
    n = strlen(s + 1);
    int sum(0);
    for(i = 1; i <= n; ++ i) {
        cnt[sum + N][s[i] - '0'] ++;
        if(s[i] == '0') -- sum; else ++ sum;
    }
    int x(0);
    for(i = 1; i <= n; ++ i) {
        if(cnt[x + N][0] && cnt[x - 1 + N][1]) -- cnt[x + N][0], -- x, putchar('0');
        else if(cnt[x + N][1]) -- cnt[x + N][1], ++ x, putchar('1');
        else -- cnt[x + N][0], -- x, putchar('0');
    }
    puts("");
}

signed main() {
//    freopen("S.in", "r", stdin);
//    freopen("S.out", "w", stdout);
    int T;
    r1(T);
    while(T --) Solve();
	return 0;
}

### Scan D Flip-Flop电路的基本原理 Scan D Flip-Flop(SDFF)是一种特殊类型的D触发器,专门设计用于提高集成电路的可测试性。它在传统的D触发器基础上增加了扫描功能,使得在测试过程中可以更容易地控制和观察内部节点的状态。SDFF的基本原理是通过将所有的触发器串联成一个或多个扫描链(Scan Chain),从而允许测试向量直接加载到芯片内部,并在测试完成后将结果移出进行验证[^2]。 SDFF的工作方式通常包括两个模式:正常操作模式和扫描测试模式。在正常操作模式下,SDFF的行为与普通D触发器相同,即在时钟信号的上升沿将数据从输入端D传输到输出端Q。而在扫描测试模式下,SDFF可以通过额外的扫描输入(Scan In)和扫描输出(Scan Out)引脚,将数据串行地移入或移出触发器。这种机制使得测试向量可以直接加载到芯片内部的各个触发器中,而不需要通过复杂的外部测试设备来生成这些测试向量。 ### Scan D Flip-Flop在数字逻辑设计中的作用 在数字逻辑设计中,Scan D Flip-Flop的主要作用是提高芯片的可测试性。通过将所有的SDFF串联成扫描链,可以在测试过程中实现以下优势: 1. **测试向量加载**:测试向量可以直接通过扫描链加载到芯片内部的各个触发器中,从而简化了测试过程并减少了测试时间[^1]。 2. **结果捕获与分析**:在测试完成后,芯片内部的各个触发器状态可以通过扫描链被读出,以便与预期结果进行比较,从而快速定位故障位置[^1]。 3. **故障检测与诊断**:由于扫描链允许直接访问芯片内部的各个节点,因此可以更有效地检测和诊断各种类型的故障,如短路、开路等[^2]。 4. **提高良品率**:通过使用SDFF和扫描链技术,可以在芯片制造完成后进行全面的测试,从而确保只有符合规格的芯片才会被交付使用,进而提高整体的良品率。 ### Scan D Flip-Flop电路的应用示例 在实际应用中,Scan D Flip-Flop通常用于构建扫描链,以支持嵌入式确定性测试(EDT)。例如,在SoC设计中,多个SDFF可以被串联起来,形成一条或多条扫描链。测试向量可以通过这些扫描链被加载到芯片内部,然后在一次逻辑计算后,结果再次通过扫描链被读出进行验证。这种方法不仅提高了测试效率,还显著降低了测试成本。 以下是一个简单的Python代码示例,展示了如何模拟一个包含Scan D Flip-Flop的扫描链: ```python class ScanDFlipFlop: def __init__(self): self.scan_in = 0 self.data_in = 0 self.clock = 0 self.mode = 0 # 0 for normal mode, 1 for scan mode self.q = 0 def update(self): if self.mode == 1: # Scan mode self.q = self.scan_in else: # Normal mode if self.clock == 1: self.q = self.data_in # 创建一个包含3个ScanDFlipFlop的扫描链 scan_chain = [ScanDFlipFlop() for _ in range(3)] # 设置扫描模式 for sff in scan_chain: sff.mode = 1 # 加载测试向量 test_vector = [1, 0, 1] for i, sff in enumerate(scan_chain): sff.scan_in = test_vector[i] sff.update() # 输出扫描链中的值 for i, sff in enumerate(scan_chain): print(f"Scan Chain {i}: {sff.q}") ``` ###
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