样品多缺陷检测

MookLab马克拉伯

于 2022-03-17 09:20:29 发布

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分类专栏：算法检测视觉检测文章标签：视觉检测图像处理 java

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本文介绍了一种样品多缺陷检测方法，结合模板匹配、斑点检测和相似度检测技术，确保样品在不同位置的合格性。通过同轴光源和高像素相机，实现精确检测。检测过程包括模板匹配确定位置、斑点检测检查孔洞、相似度检测验证第三个区域，所有算法通过后样品才被视为合格。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

样品多缺陷检测

——模板匹配、斑点检测与相似度检测的调用

样品多缺陷检测

一、检测实现功能

本案例实现检测用户样品几个不同位置是否有缺陷，每个位置调用不同算法来检测样品是否合格。

二、检测系统需求分析

①、为了获得最优的打光效果，这里选两个同轴光源垂直向下打光；

②、为了达到检测要求，这里选用500W黑白网口相机，工业高像素级25mm定焦镜头；

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