DDR4 spec Q&A part12

Q1: 什么是Connectivity Test (CT) Mode，它的主要功能和使用场景是什么？

A: Connectivity Test (CT) Mode是DDR4 SDRAM中的一种测试模式，主要用于验证芯片与系统之间的连接性。在CT模式下，DRAM会接受特定的测试输入信号，并产生相应的测试输出信号，以便系统可以验证连接是否正常。

CT模式的使用场景通常是在系统集成和组装后的初步测试阶段，用于检测硬件连接问题。根据文档说明，CT模式可以在DRAM完成上电后使用，但必须在DRAM初始化完成和VREFdq校准之前使用。一旦DRAM被初始化并且VREFdq被校准，CT模式就不能再被使用。

在CT模式下，DRAM的内部刷新活动（无论是外部触发的自动刷新还是内部的自刷新）都会被暂停，这意味着CT模式不保证内存数组内容的完整性。退出CT模式后，DDR4内存设备的状态是未知的，需要进行重置初始化序列。

Q2: DDR4 DRAM的CT模式中，TEN信号的作用是什么，以及它如何影响DRAM的工作状态？

A: 在DDR4 DRAM的Connectivity Test (CT) Mode中，TEN (Test Enable)信号是进入测试模式的关键控制信号。TEN信号具有以下作用和影响：

1. 模式切换：当TEN信号被激活（置高）时，DRAM会在tCT_Enable时间后进入CT模式，此时CK_t和CK_c时钟信号将被忽略。

2. 操作条件：TEN信号激活前，所有电源电压必须有效且稳定，这是进入CT模式的前提条件。