超低电压混合全加器设计

超低电压高效能混合全加器电路设计

摘要

近年来，超低电压（ULV）操作在实现最小能耗方面变得越来越重要。
本章旨在降低全加器电路在近阈值区域工作时的能耗。提出了一种新的混合全加器电路，该电路结合了CMOS逻辑和传输门（TG）逻辑，并采用动态阈值MOS（DTMOS）方案。DTMOS是一种体偏置方案，通过动态调节晶体管的阈值电压来提升超低电压操作下的性能。计算并对比了能量、功耗、延迟和EDP等性能指标与传统CMOS全加器的表现。仿真使用Cadence 90 纳米技术，在0.2伏超低电压（亚阈值区域）下进行。结果表明，与静态CMOS结构相比，所提出的采用DTMOS方案的混合全加器电路在延迟上节省超过26%，能耗降低15%，EDP减少38%。

关键词 CMOS · DTMOS · 能量消耗 · 传输门 · 超低电压（ULV）操作

1 引言

随着技术的进步以及对手机、笔记本电脑和微传感器网络等能量受限的便携式电池供电应用的需求不断增加，其能耗问题数字电路正变得越来越重要[1]。研究表明，功耗会随着电源电压缩放而直接降低，且在亚阈值区（电源电压—VDD低于晶体管阈值电压—VT）下运行数字电路被认为是实现超低功耗（ULP）消耗并保持可接受性能的最有效解决方案[2]。MOS晶体管的亚阈值电流由公式(1)给出。

$$
I_{sub} = I_0 e^{(V_{GS}-V_T)/nV_{th}} \tag{1}
$$

and

$$
I_0 = \mu_0 C_{ox} \frac{W}{L} (n - 1)V_{th}^2 \tag{2}
$$

其中
$V_T$：阈值电压
$V_{th}$：热电压 (KT/q)
$V_{GS}$：栅源电压
$n$：亚阈值斜率因子 $(1+C_{dep}/C_{ox})$
$W$：有效沟道宽度
$L$：沟道长度
$\mu_0$：零偏载流子迁移率
$C_{dep}$：耗尽层电容
$C_{ox}$：氧化层电容

算术运算在许多VLSI应用中起着关键作用。加法、减法、乘法和累加是最常用的算术运算，其中1位全加器是所有这些实现的基本单元。因此，提升1位全加器单元的性能对于提高整个系统性能至关重要。

本研究提出了一种新的混合全加器电路，旨在亚阈值区域运行，以实现高效的能量算术应用。本章其余部分组织如下：第2节介绍所提出的全加器电路的设计方法；第3节展示仿真结果及对比讨论；最后，第4节给出结论。

2 提出的混合设计

所提出的混合全加器电路采用静态CMOS逻辑[3]和传输门（TG）逻辑[4]结合动态阈值（DTMOS）方案[5]设计，如图1所示。该设计结构类似于文献[6]中提出的混合全加器（Hybrid-FA）。它由两个相同的XNOR逻辑门和传输门组成，分别用于生成和输出与进位输出（Cout）。

由于求和模块是功耗的主要来源，因此XNOR门电路采用电平恢复晶体管（M5和M6）设计，以确保完整的输出摆幅并减少晶体管数量，从而降低电路功耗。使用传输门生成Cout可确保完全的逻辑摆幅。由于进位输入（Cin）仅通过单个传输门（M15和M16）传播，因此传播延迟得以降低。

为了进一步提高混合加法器设计在亚阈值区工作时的能效，引入了DTMOS方案（将晶体管体端连接到栅极输入）。DTMOS方案是一种超低电压、面积高效的体偏置方案，其中器件的阈值电压（VT）随栅极电压的变化而动态变化。描述体偏置对阈值电压影响的基本方程为[7]

$$
V_T = V_{T0} + \gamma \left( \sqrt{2\phi_B - V_{SB}} - \sqrt{2\phi_B} \right) \tag{3}
$$

参数 $\gamma$ 是体效应系数，$\phi_B$ 是平带电压，$V_{SB}$ 是源极到体偏置电压，$V_{T0}$ 是零衬底/体偏置时的阈值电压。由公式(3)可知，采用DTMOS方案后，漏电流将减小（当 $V_G = V_B = 0$；$V_T$ 较高时），速度将提高（当 $V_G = V_B = 1$；$V_T$ 较低时）。

超低电压高效能混合全加器电路设计

3 结果与比较讨论

所提出的混合全加器电路进行了仿真，并与传统CMOS（C-CMOS）和动态阈值CMOS（DT-CMOS）全加器设计进行了比较。所有仿真均采用 Cadence 90 nm工艺技术，电源电压为200毫伏，工作频率为20千赫兹。仿真得到的性能指标—功耗、延迟、能量和EDP—的比较结果如表1所示。从比较结果可以看出，所提出的设计在能量和EDP方面均低于其他设计。

所提出设计的版图如图2所示。该设计的面积为 28.7μm²，与互补 CMOS（30.8 μm²）和DT-CMOS（34.6 μm²）相比极低，仅比混合型全加器（25.84 μm²）多出11%。

设计	平均功耗（pW）	延迟 (ns)	能量 (aJ)	EDP (yJs)
互补CMOS	943.4	50.9	48.019	2.44
动态阈值CMOS	1023.4	43.22	42.379	1.827
混合型全加器	1018.2	42.23	42.99	1.811
所提出的	1094.3	37.175	40.683	1.512

不同全加器的PDP和EDP对比曲线分别如图3和图4所示。可以看出，所提出的设计在PDP和EDP方面实现了显著节省，相比混合型全加器节省超过5%和16%，相比DT-CMOS节省4%和16%，相比互补CMOS节省15%和38%。这些节省得益于进位传播路径更短，并且在所提出的电路中采用了DTMOS方案，从而降低了整体传播延迟。

4 结论

本章设计了一种新的混合全加器电路，该电路采用互补CMOS逻辑和传输门（TG）逻辑，并结合动态阈值MOS（DTMOS）技术，工作在亚阈值区域以实现最小能量消耗。电路的仿真基于Cadence 90 nm工艺技术，电源电压为0.2 V。仿真结果表明，与C-CMOS、DT-CMOS和混合-FA等其他设计相比，该设计实现了超过15%的延迟节省、4%的能量节省和16%的EDP节省，且面积利用率仅为28.7 μm²。

因此，所提出的全加器电路可作为许多为面积和能量高效的算术应用而设计的亚阈值加法器的替代方案之一。