36、天线电性能补偿及相关结构研究

天线电性能补偿及相关结构研究

1. 天线变形实验及电补偿研究

在天线的实际应用中，天线表面的变形会对其电性能产生显著影响。下面将介绍两种天线变形实验及相应的电补偿研究。

1.1 勺形弯曲变形实验

通过调整9个致动器使天线表面产生勺形弯曲变形。根据摄影测量得到的变形信息，测得阵列表面的变形结果，天线表面的最大变形为20.5mm，是天线工作波长的0.81倍。
在扫描角度为0°和10°时分别测量辐射方向图。在这种变形情况下，天线的方向性降低了约2.2dB，主波束方向和零值位置与未变形波束方向约有0.4°的差异，半功率波束宽度增加了约0.4°。补偿后，天线的电性能指标得到了恢复，但由于补偿方法的限制，旁瓣和零值深度无法恢复到理想状态。具体的电性能指标对比见表1。

状态	扫描角度（°）	方向性（dB）	波束方向（°）	旁瓣电平（dB）	波束宽度（°）	零值位置（°）	零值深度（dB）
未变形	0	40.09	0.48	-29.32	0.94	0.48	-42.44