探究大脑神经连接:从突触接触到TMS/EEG技术
大脑作为人体最为复杂的器官,其神经元之间的连接和活动一直是科学界研究的重点。了解神经元的连接方式以及大脑皮层的兴奋性和有效连接性,对于揭示大脑的工作机制、理解神经系统疾病的发病原理具有至关重要的意义。本文将深入探讨突触接触的识别方法,以及TMS/EEG技术在研究人类大脑皮层兴奋性和有效连接性方面的应用。
突触接触的识别与验证
在研究神经元之间的连接时,预测的神经支配域与实际突触接触区域之间的对应关系并非显而易见。对于表现出单突触传递的神经元对,在光学显微镜水平上,通过寻找突触前轴突和突触后树突的紧密并置来搜索突触接触。然而,光学显微镜的分辨率不足以区分紧密并置和真正的突触接触。
为了验证突触接触的存在,需要进一步处理选定的切片进行电子显微镜检查,并对这些假定的突触位置拍摄高倍图像,依据突触的常见超微结构标准来确定。研究表明,在光学显微镜下识别的接触中,有80% - 90%在超微结构水平上确实是接触。
将预测的神经支配域与识别出的突触接触进行叠加后发现,绝大多数突触接触都位于80%的神经支配域内。但并非所有连接都遵循这一规则,例如特定的突触连接,即第4层星状锥体神经元与第6A层锥体神经元的连接,突触接触仅在基树突上被发现,而神经支配域的轮廓本应预测在顶树突上有接触。因此,独立识别突触接触(使用光学显微镜检查,并优先使用电子显微镜进行超微结构验证)是至关重要的。
TMS/EEG技术的原理与优势
TMS/EEG技术,即经颅磁刺激(TMS)与脑电图(EEG)相结合的技术,为研究人类大脑皮层的兴奋性和有效连接性提供了一种非侵入性的方法。以下是其主要优势:
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