34、数字电路测试技术解析

数字电路测试技术解析

1. CALBO与BILBO对比

CALBO生成的伪随机序列与之前BILBO线性反馈移位寄存器（LFSR）生成的序列有明显差异。经过广泛研究，CALBO序列被认为比LFSR序列具有更强的随机性和更低的互相关性。因此，作为内置测试的测试向量生成器和签名分析器，CALBO电路可能具有更优的测试特性，与BILBO相比，实际故障掩盖情况有所减少。不过，在假设所有故障发生概率相等的情况下，理论故障掩盖概率与LFSR相同，即 (P(M) = 1 / 2^n)，但对这一结果需谨慎对待。

CALBO的测试策略与BILBO相同。图中所示的两个控制信号C1和C2以及扫描输入和扫描输出端子的操作方式，与BILBO电路完全一致。CALBO寄存器的排列方式可用于测试每个组合逻辑分区。此外，还提出了使用CALBO进行边界扫描的方法，该领域有望进一步发展。

与BILBO相比，CALBO的一个潜在优势是，生成最大长度序列的所有反馈抽头都是局部连接，而LFSR的反馈抽头需要贯穿整个移位寄存器。因此，通过添加或移除级并重新排列局部连接，CALBO生成器的长度可以更轻松地增加或减少；而对于LFSR，长度的任何修改都需要新的生成多项式，从而改变抽头和寄存器的布线。这种灵活性是CALBO相对于BILBO的一个有用优势。然而，CALBO可能需要额外的硅面积，因为其电路比BILBO移位寄存器级稍微复杂一些。

特性	CALBO	BILBO
序列随机性	更